JW-BK222型 比表面及孔径分布
产品简介
两个独立分析站,两个样品同时测试,效率提高一倍,控制和测试精度达*水平
详细信息
JW-BK222型 比表面及孔径分析仪
精微高博是比表面积测定仪的厂商,精微高博比表面积测定仪一并荣获中国*测试证书,*及CE认证并且还有*的产品是通过**
精微高博比表面仪具有两个独立分析站,两个样品同时测试,效率提高一倍,控制和测试精度达*水平
比表面积测定仪功能
比表面测定: BET(单点、多点)比表面,Langmuir比表面,外表面测定;
BJH孔径分布测定: 总孔体积、平均孔径、孔容/孔径的微分与积分分布;
微孔常规分析: 微孔总孔体积、总内表面积(t-图、D&R、MP等)
真密度测定
比表面积测定仪技术参数
比表面积测定仪原理方法: 低温氮吸附,静态容量法
比表面积测定仪吸附气体: 高纯氮气,也可用氪、氦、二氧化碳等其他气体
比表面积测定仪极限真空: 4 - 6.7×10-2Pa (3- 5×10-4 Torr)
比表面积测定仪氮气分压: 4×10-5 – 0.995
比表面积测定仪控制精度: 测试压力点控制zui小间隔可小于0.1 KPa (0.75 Torr)
比表面积测定仪测试范围: 比表面 ≥ 0.01 M2/g,无规定上限
孔径 0.35 - 400 nm
比表面积测定仪测试精度: ≤±2%
比表面积测定仪测试效率: 双工作站,测试效率提高一倍,多点BET比表面测定,每样平均15min
孔径分析两个样品同时测试,效率也提高一倍
比表面积测定仪预 处 理: 两个样品同位处理,温度50-400℃,±1℃
比表面积测定仪软件: BET(单点、多点)、Langmuir、BJH、t-Plot、MP、D-R等
真密度测试:重复性精度0.02%
比表面积测定仪特色
◎ 比表面仪具有双工作站,测试效率提高一倍,多点BET比表面测定,每样平均15min
◎ 比表面仪具有国内*通过*技术鉴定的产品,控制和测试精度达到*水平;
◎ 比表面仪具有*的抽气与充气速度精密控制技术,超微粉样品也不会被抽飞;
◎ 比表面仪具有*的多途径液氮面控制与校正技术,连续测试10小时也不需添加液氮;
◎ 比表面仪具有完善的标准等温线数据库和规范的分析方法,微孔常规测试技术国内;
◎ 比表面仪具有软件功能齐全、界面友好、操作方便、实时显示样品的吸、脱附压力变化及平衡过程;
◎ 比表面仪具有实验全程自动化、智能化控制,长时间运行*可以无人职守。
静态容量法比表面测试仪特点之真密度测试:
技术参数:
JW-BK系列静态容量法比表面及孔径分析仪,适用于各种粉体材料、固体材料等的真密度分析,*的高精度真密度测试功能,测试时间不超过3分钟/次,连续测试次数用户可以自行定义,zui高次数可达10次。
★ 重复性:± 0.015 %;
★ 精确度:± 0.02 %;
★ 测试分辨率:0.00001 g/cm3
公司荣誉
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中关村*协会理事单位
中国分析测试协会会员单位
北京粉体技术协会理事单位
*受*专家进行产品鉴定的企业
欧盟安全体系认定证书
中国计量研究院仪器校准证书
北京市可引进人才进京落户单位
公司的核心价值
发展;尊重人才与创新;以服务客户为己任。