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台式扫描电子显微镜(SEM)全新升级。
我们以“更高画质、更易于使用、更易于观察”为理念，开发出TM4000系列。在此基础上，我们又推出功能更为多样的TM4000Ⅱ系列。 为您提供全新的观察和分析应用。
台式显微镜作为扫描电子显微镜（SEM）在生物技术和材料等领域得到广泛应用。该系列由日立于2005年4月开始销售，可放在办公桌上，设计紧凑，比普通SEM更受广大用户欢迎。它不仅应用于研究机构，而且还越来越广泛地应用于工业领域，成为制造业品质管理的利器。
"TM4000 II"和"TM4000Plus II" 可简化从样品观察、图像确认到生成报告等一系列操作过程，大幅提高了工作效率。还标配了报告生成功能，观察结束后可十分轻松地将拍摄的图像制作成Microsoft®Word®、Excel®、PowerPoint®格式的报告。此外，选配项还可实现更多功能。
TM4000 II/TM4000Plus II 具有以下三大特点：
标配低空模式，简化样品前处理
采用低真空，不导电样品也无需喷金，可以直接观察，大大提高了工作效率。全自动聚焦和亮度对比度调整，只需按几个按钮就可以拍摄图片，简单快捷。
可根据不同样品设置不同的观察条件
样品仓内的真空度及加速电压有多种选择，可根据需求自行设置。
简化寻找视野、图像拍摄、图像确认等一系列操作过程（选配）
在样品仓上可选配光学相机，样品开始观察前先拍摄样品的整体照片，双击照片上的样品，即可实现照片导航功能。
另外，“TM4000 II”和“TM4000Plus II”可根据不同观测目的，选择5KV、10KV、15KV、20KV四种不同的观测模式，获取图像。其中5kV适合观察样品表面形状，10KV适合常规样品观察，15kV适合高倍率观察，20KV适合元素成分分析。每个电压下都有四挡束流可调，可以针对不同的观察需求选择。
自动获取各类数据。快速切换！
可快速获得元素分布图 *2
*1TM4000PlusⅡ的功能。
*2选配
Camera Navi图像让您轻松找到视野，分布图(MAP)功能全程支持您的观察
*选配：Camera Navi系统
观察图像只需 3 分钟。
可快速观察图像，并导出测试报告。.
只需选择图像和模板，就可以制作Microsoft Word、Excel、PowerPoint格式的报告
对于容易产生荷电的样品，可使用“荷电减轻模式”，在抑制荷电的状态下进行观察。
只需用鼠标在软件上点击即可切换到“荷电减轻模式”。
对于容易产生荷电的粉末或含水等样品，可结合其目的进行观察。
不仅是观察传统的导电性样品，还可以在无预处理的条件下观察绝缘物和含水、含油样品。可快速进行二次电子像与背散射电子像之间的切换。
采用高感度低真空二次电子检测器(UVD)。通过检测由于电子线与残留气体分子之间的碰撞而产生的光，可以观察带有二次电子信息的图像。此外，通过控制该检测器，来检测电子照射所产生的光，可以获得CL信息（UVD-CL：带有CL信息的图像）。
TM4000Ⅱ/TM4000Plus II可支持加速电压20 kV。
凭借EDS分析（选配），可进行更高计数率解析。
可实现在广域范围内进行SEM观察。
搭配自动马达台，可实现低倍率，高精度，大范围的观察分析。
