电子元器件三箱式冷热冲击箱 安性能测试
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TSD-36F-2P电子元器件三箱式冷热冲击箱 安性能测试

参考价: 订货量:
152000 1

具体成交价以合同协议为准
2024-06-21 14:22:21
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广东皓天检测仪器有限公司

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产品简介

电子元器件三箱式冷热冲击箱 安性能测试

适用于电子元器件的安性能测试提供可靠性试验、产品筛选试验等,同时通过此装备试验,可提高产品的可靠性和进行产品的质量控制。
  二箱式:上部为高温箱,下部为低温箱,两箱之间由样品架连结,经气动系统在两箱间切换。

详细介绍

电子元器件三箱式冷热冲击箱 安性能测试


用途:
  该产品适用于电子元器件的安性能测试提供可靠性试验、产品筛选试验等,同时通过此装备试验,可提高产品的可靠性和进行产品的质量控制。
  二箱式:上部为高温箱,下部为低温箱,两箱之间由样品架连结,经气动系统在两箱间切换。
  三箱式:该冲击试验箱为待测品静置之冷热交替冲击方式,广泛使用于电子零组件测试,半导体,电子线路板,金属化学,材料等测试设备。试验箱下部为低温蓄冷区,上部为高温蓄热区,试件(待测品)放置在试验箱中部,高温冲击时,上风门打开,形成高温内循环。低温冲击时,上风门关闭,下风门打开,形成低温内循环。该冲击试验箱的特点是:试件(待测品)静止不动,使用户避免了因试件移动带来的诸多不便。
 
  该产品适用于电子元气件的安全性能测试提供可靠性试验,产品筛选试验等,同时通过此装备试验,可提高产品的可靠性和进行产品的质量控制。



满足的试验方法:


GB/T2423.1.2 、GB/T10592-2008、GJB150.3等国jun标准。


产品特点:


1、三箱设备区分为:高温区、低温区、试验区三部分 ,测试产品置于测试区,冲击时高温区或低温区的温度冲击入测试区进行冲击,测试产品为态式 ;


2 、200(60 )℃~(-10 )-65 ℃测试范围;


3 、冷热冲击温度转换时间在8 秒钟以内,恢复时间为5 分 钟内;


4 、采用触控式图控操作介面,操作简易;


5 、冲击方式应用风路切换方式将温度导入测试区,做冷热冲击测试;


6 、高温冲击或低温冲击时,大时间可达999 H ,大循环周期可达9999 次;


7 、系统可作自动循环冲击或手动选择性冲击并可设定二区或三区冲击及冷冲热冲启始。


8 、冷却采二元冷冻系统,降温效果快速,冷却方式为水冷式。


9 、可以试验冲击常温。


电子元器件三箱式冷热冲击箱 安性能测试

电子元器件三箱式冷热冲击箱 安性能测试


广皓天三箱式冷热冲击试验箱门与循环风机,提蓝传动等互锁,保护操作者的安全,一旦打开箱门,循环风机和提蓝传动的电源会被自动切断。在箱顶有标准引线孔管,方便用户向箱内引入传感器线,检测电缆等类型引线。
 
  制冷系统:制冷系统及压缩机:为了保证试验箱降温速率和低温度的要求,本试验箱采用一套进口法国全封闭压缩机所组成的二元复叠式风冷制冷系统。复叠式冷系统包含一个高温制冷循环和一个低温制冷循环,其连接容器为蒸发冷凝器,蒸发冷凝器是也到能量传递的作用,将工作室内热能通过两级制冷系统传递出去,实现隆温的目的。
 
  控制系统:主控制器采用双回路高精度液晶显示触摸按键温度控制器。该控制器采用液晶显示触摸屏,可显示设定参数、试验曲线、运行时间、加热器工作状态,PID参数自整定功能。



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