集合了磁性测厚仪（P-MP0D）和涡流测厚仪（I-MP0D）两种仪器的功能，可用于测量铁基及非铁基体上涂层的厚度。如：
1. 钢铁材料上的铜、铬、锌等电镀层或油漆、涂料、搪瓷等涂层厚度。
2. 铝、铜、金等箔、带材料及纸张、塑料膜的厚度。
3. 铜、铝、镁、锌等非铁金属材料上的涂层厚度。
4. 铝、镁材料上阳极氧化膜的厚度。
5. 各种钢铁及非铁金属材料上热喷涂层的厚度。
特点
符合国家标准GB/T4956和GB/T4957，可用于生产检验、验收检验及质量监督检验。
采用双功能内置式探头，无需更换探头，可自动识别铁基或非铁基体材料，并选择相应的测量方式进行精确测量。
符合人体工程学设计的双显示屏结构，可以在任何测量位置读取测量数据。
采用手机菜单方式快速选择功能。
仪器可设定上下限，测量结果超出或符合上下限数值时，仪器会发出相应的声音或闪烁灯提示。
镀层厚度
  仪器开启后，把仪器放在要测量工件上，等待仪器发出测量声响。这种方式可以自动开启仪器。
  把仪器提离工件。测量声响后显示读数。说明：若太早提起仪器(未有声响前)，错误信息 “Er6”会出现。重复步骤1。
  当仪器已在开启状态时，读数会马上显示。仪器放在测量工件上及提起后均有显示。
DUALSCOPE 校准
校准需要有下面几项：底材（形状和底材物料要与待测部件*）和一片标准片(仪器随机的75 µm左右标准片)。说明：校准将删除内存中的所有读数。
按[CAL]键。
    显示"Base" (即 “未镀过的底材”)
在底材上测量五次左右.
    每次测量后，会显示当前的读数。
按[OK]键.
    显示 0.00 和STD1 (即校准标准片 # 1).
把校准标准片放在底材上，并测量5次左右。
    每次测量后，屏幕上会显示当前读数。
用﹤或﹥键调整第4步的后一个数值至标准片的标称值，如“75 µm”。标准片的标称值注明在标准片上。
按 [OK]键。
    完成校准程序. 仪器返回测量状态.

技术参数
 

标配：两节5号电池、主机一台；铁、铝基体各一块；标准片一片；手提仪器盒；操作手册。