Panametrics(泛美) 38DL PLUS OLYMPUS高级超声波测厚仪

Panametrics 38DL PLUSPanametrics(泛美) 38DL PLUS OLYMPUS高级超声波测厚仪

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2022-10-21 16:31:29
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上海旦鼎国际贸易有限公司

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产品简介

PLUS测厚仪是一款开创超声测厚技术新时代的创新型仪器。这款手持式测厚仪可*地适用于几乎所有超声测厚应用,而且与所有双晶和单晶探头*兼容。功能齐全的38DL
PLUS测厚仪可用于各种应用,包括使用双晶探头对内壁腐蚀的管件进行的管壁减薄的测量,以及使用单晶探头对薄壁或多层材料进行的极其精确的壁厚测量。

详细介绍

【产品名称】Panametrics(泛美) 38DL PLUS OLYMPUS高级超声波测厚仪

【产品型号】Panametrics 38DL PLUS

超声波测厚仪 高级超声波测厚仪 无损检测仪 美国泛美超声波测厚仪  数字超声波测厚仪

高级超声波测厚仪产品特点】

PLUS测厚仪是一款开创超声测厚技术新时代的创新型仪器。这款手持式测厚仪可*地适用于几乎所有超声测厚应用,而且与所有双晶和单晶探头*兼容。功能齐全的38DL

PLUS测厚仪可用于各种应用,包括使用双晶探头对内壁腐蚀的管件进行的管壁减薄的测量,以及使用单晶探头对薄壁或多层材料进行的极其精确的壁厚测量。

38DL

PLUS的标准配置带有很多既强大又易于使用的测量功能,以及一些于某些特殊应用的软件选项。其密封机壳的设计符合IP67评级要求,可以抵御极其潮湿或多沙尘的严酷的环境条件。彩色透反VGA显示功能使得测厚仪显示屏无论在明亮的阳光下还是在*的黑暗中都能具有的可视性。测厚仪的键区既简洁又符合人体工程学的要求。操作人员使用左手或右手即可轻易访问所有功能。

主要特性

可与双晶和单晶探头兼容。

     宽泛的厚度范围:0.08毫米~635毫米,根据材料和所选探头而定。

 使用双晶探头进行腐蚀测厚。

穿透涂层和回波到回波测量功能,用于测量表面带有漆层和涂层的材料。

内部氧化层/沉积物软件选项。

对于所有探头,标准分辨率为0.01毫米。

使用频率范围为2.25 MHz30 MHz的单晶探头,高分辨率软件选项可进行分辨率0.001毫米的厚度测量。

多层软件选项可对多达4个不同层同时进行测量。

高穿透软件选项用于测量纤维玻璃、橡胶及厚铸件等具有高衰减性的材料。

厚度、声速和渡越时间测量。

差分模式和缩减率模式。

时基B扫描模式;每次扫查可获得10000个可查读数。

 带有数字式过滤器的Olympus高动态增益技术。

用于自定义V声程补偿的V声程创建功能。

 设计符合EN15317标准。

高级超声波测厚仪技术参数】

显示:彩色透反VGA显示液晶显示,显示屏尺寸:56.16毫米 X 74.88毫米

检波全波:RF波、正半波、负半波

输入/输出:USB1.0从接口。RS-232有。

存储卡zui大容量:2 GB外置MicroSD存储卡。视频输出VGA输出标准。

内置数据记录器:数据记录器38DL PLUS通过标准RS-232串口或USB端口识别、存储、回放、清除、传输厚度读数、波形图像和仪器配置信息。容量475000个厚度测量读数,或20000个带厚度值的波形文件名称、ID编码及注释32位字符的文件名,20位字符的字母数字位码,每个位有四个注释。文件结构9个标准的或自定义的用于特定应用的文件结构。

报告机载:报告总结了数据统计、带有位置信息的zui小值/zui大值、zui小值回顾、文件比较及报警报告。

软件选项

38DLP-OXIDE (U8147014):使用编码激活的内部氧化层测量软件。

38DLP-HR (U8147015):使用编码激活的高分辨率测量软件。

38DLP-MM (U8147016):使用编码激活的多层测量软件。

38DLP-HP (U8147017):使用编码激活的高穿透(低频)测量软件。

选购附件

38DLP/EW (U8778348)3年保修。

1/2XA/E110 (U8767104):用于E110-SB EMAT探头的滤波器适配器。

38-9F6 (U8840167)RS-232线缆

38-C-USB-IP67 (U8800998)USB线缆,用于符合IP67标准的密封操作。

38DLP/RFS (U8780288):脚踏开关,厂内安装。

HPV/C (U8780124):数字式卡尺线缆,用于在测量声速时进行厚度输入。

38DLP-V-CC (U8840172): 数字式卡尺线缆。

38DLP/BCW/NC (U8780289):棒材编码读取器。

EPLTC-C-VGA-6 (U8840035)VGA输出线缆。

MICROSD-ADP-2GB (U8779307)2 GB外置MicroSD存储卡。技术规格

测量

双晶探头测量模式从激励脉冲后的精确延时到*个回波之间的时间间隔。

穿透涂层测量模式利用单个底面回波(使用D7906-SMD7908探头),测量金属的实际厚度和涂层厚度。

穿透漆层回波到回波测量模式在两个连续底面回波之间的时间间隔,不计漆层或涂层的厚度。

单晶探头测量模式模式1:激励脉冲与*个底面回波之间的时间间隔。

模式2:延迟线回波与*个底面回波之间的时间间隔(使用延迟线式或水浸式探头)。

模式3:在激励脉冲之后,位于*个表面回波后的相邻底面回波之间的时间间隔(使用延迟线式或水浸式探头)。

氧化层模式:可选。

多层模式:可选。

厚度范围:0.080毫米~635.00毫米,视材料、探头表面条件、温度和所选配置而定。

材料声速范围:0.508 mm/μs13.998 mm/μs

分辨率(可选择)低分辨率:0.1毫米

标准分辨率:0.01毫米

高分辨率(可选项):0.001毫米

探头频率范围标准:2.0 MHz30 MHz-3 dB

高穿透(可选项):0.50 MHz30 MHz-3 dB

一般规格:工作温度范围-10°C50°C键区密封、以色彩区分功能的键盘,带有触感及声音反馈。机壳防撞击、防水、装有密封垫的机壳;机壳上的接口密封。设计符合IP67标准。

外型尺寸:(宽 x x 厚)总体尺寸:125毫米x211毫米x46毫米

重量:0.814公斤

电源AC/DC适配器:24V锂离子电池,23.760 Wh;或4AA辅助电池。

锂离子电池供电时间工作时间:zui少12.6小时,一般14小时,zui多14.7小时。快速充电:2小时到3小时。标准设计符合EN15317标准。

 

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