数据分析结果表明, 染污绝缘子串Uf 与ρESDD、ρNSDD 之间呈三维曲面关系, 随着ρESDD和ρNSDD 的增加, Uf 逐渐下降; 在ρESDD、ρNSDD较小时Uf 下降较快, 随着ρESDD 和ρNSDD 的增加, Uf 下降趋势变缓, 这与分别考虑ρESDD 及ρNSDD 作用时, 对Uf 的影响是类似的。

灰密和盐密均对绝缘子污闪电压有影响。XP - 160 瓷绝缘子的灰密影响特征指数为0. 14 , 盐密影响特征指数为0. 24 , 盐密影响是灰密影响的1. 71 倍, 即盐密影响大于灰密影响。

（1） 在人工污秽试验中, 染污绝缘子串闪络电压与盐密和灰密分别呈幂函数关系, 并且盐密和灰密对闪络电压的影响是相互独立的。
（2） 在人工污秽试验中, 不仅应考虑盐密的影响, 也应考虑灰密的影响。