X-RAY膜厚仪

品牌：韩国Micro Pioneer 微先锋

型号：XRF-2020系列

测量镀种为：镀金、镀锌、镀钯、镀铬、镀铜、镀银、镀锡、镀镍，镀锌镍合金等

可测单层、双层、多层、合金镀层测量，不限底料。

检测范围0.03-35um

韩国X-RAY膜厚仪精度：

*层：±5%

第二层：±8%

第三层：±15%

以下为韩国XRF-2000:韩国X-RAY膜厚仪检测范围

Au  0.03-4um

Pd  0.03-4um

Ni  0.05-25um

Ni-P 0.05-25um

Sn 0.05-80um

Ag  0.03-30um

Cr  0.05-25um

Zn  0.05-25um

ZnNi 0.05-25um

SnCu 0.05-25um

韩国X-RAY膜厚仪设备功能描述

兼容Microsoft Windows 操作系统

使用X荧光射线非接触非破坏快速测量膜厚层

各种样品单层至多层（5层），合金膜层均可测量

定点自动定位分析

光径对准全自动

影像重叠功能

自动显示测量参数

彩色区别测量数据

多重统计显示视窗与报告编辑应用2D/3D，任意位置测量控制Y轴全自动控制雷射对焦与自动定位系统

多种机型选择X-ray运行待命（睡眠）控制温控稳定延长校准时效全进口美日系零件价格优势及快速的服务时效

韩国先锋XRF-2020 系列

测量镀种为：镀金、镀锌、镀钯、镀铬、镀铜、镀银、镀锡、镀镍，镀锌镍合金等

测量的厚度范围为0.03微米～35微米。

可测单层、双层、多层、合金镀层测量，不限底料。

韩国X-RYA膜厚仪型号

不同型号各种功能相同

机箱容纳样品大小有以下不同要求

XRF-2020N型:测量样品高度不超过25cm  (长20宽18cm)

XRF-2020H型:测量样品高度不超过12cm  (长20宽17cm)

XRF-2020L型:测量样品高度不超过3cm   （长20宽19cm）

XRF-2020PCB型:测量样品高度不超3cm,PCB板

韩国X-RAY膜厚仪精度:可显示小数点后三位