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SMX-1000/SMX-1000L采用FPD(数字式平板检出器)和密闭式微焦点X射线管球,可以得到没有变形和重影的清晰的透视图像。另外,设备操作软件在检查样品种类后就可自动设定检查条件,通过简单操作就可高效地完成作业。设备上的CCD相机可拍摄样品实物图片,从而实现导航功能、步进功能、教学功能、图像数据功能以及各种测量功能。
| SMX-1000 | SMX-1000L |
空间分辨率 | 5μm | |
可搭载样品尺寸 | 350X400mm | 570X670mm |
检查行程 | 300X350mm | 520X620mm |
可搭载样品质量 | zui大5kg | |
接收部倾斜 | zui大60度 | |
接zui大输出电压 | 90kv(10W) | |
接收部 | 数字平板检出器 | |
检查视野 | 约2~35mm | |
放大倍数 | 约6~158倍(动画zui大127倍) | |
功率 | AC100V 1kVA | |
外形尺寸 | 995(W)X990(D)X1,285 | 1,490(W)X1,525(D)X1,325 |
质量 | 约500kg | 约950kg |
SMX-1000/SMX-1000L采用FPD(数字式平板检出器)和密闭式微焦点X射线管球,可以得到没有变形和重影的清晰的透视图像。另外,设备操作软件在检查样品种类后就可自动设定检查条件,通过简单操作就可高效地完成作业。设备上的CCD相机可拍摄样品实物图片,从而实现导航功能、步进功能、教学功能、图像数据功能以及各种测量功能。
用途
SMX-1000/SMX-1000L能够通过非破坏检查方法对高密度实装基板和BGA、CSP、系统LSI等超细微部分的结合状态(断路、短路)进行高放大倍数透视检查。
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