产品简介
利用X射线荧光（XRF）进行镀层厚度测量和材料分析，提高过程和质量控制。
X-Strata是结构紧凑、坚固耐用、用于质量控制的可靠的台式X射线荧光分析设备，提供简单、快速、无损的镀层厚度测量和材料分析。
详细介绍
它在工业领域如电子行业、五金电镀行业、金属合金行业及贵金属分析行业表现出的分析能力，可进行多镀层厚度的测量。
镀层测厚仪X-Strata系列提供：
- 无损分析：无需样品制备
- 经行业认证的技术和可靠性，确保每年都带来收益
- 操作简单，只需要简单的培训
- 分析只需三步骤
- 杰出的分析准确性和精确性
- 在镀层测厚领域拥有超过20年的丰富经验
- 一款全面强大的X射线荧光分析仪，能够检测各种大小的样品
- 快速、精确分析固体、液体和粉末
- 程控台的大样品舱方便样品摆放和测量（可选）
- 集成电脑节省了台式仪器的空间
- 高分辨率检测器使检测下限降到zui低
- 应用广泛，包括光电池、RoHS有害元素筛选和贵金属分析
