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FT4多功能粉末流动性测试仪
FT4是一台多功能粉末性能测试仪，可以进行粉末动力学测试、粉末剪切强度的剪切力测试、壁面摩擦、粉末密度、压缩性、透气性等测试，拥有的测试套件，是真正意义上的多功能的粉末测试仪 参考价面议 -
大型二次离子质谱 IMS 1280-HR
大型二次离子质谱 IMS 1280-HR
?针对地质领域和环境科学分析专门而设计、注重原位分析
?具有超高的灵敏度
?U-Pb地质学定年、稳定同位素分析、痕量元素以及放射性颗粒分析的Z高水平分析仪器 参考价面议 -
高分辨率二次离子质谱NanoSIMS 50L
高分辨率二次离子质谱NanoSIMS 50L
1、专门针对同位素以及痕量元素的高空间分辨率的二次离子探针
2、具有*的横向分辨率，痕量元素和同位素高灵敏度
- 高空间分辨率 （Z小到50 nm）
- 高灵敏度 （元素分布图像ppm）
- 高质量分辨率（M/dM）
- 快速数据接收（DC mode, 非脉冲模式）
- 可分析绝缘样品
- 同位素分析精度可达千分之零点几 参考价面议 -
二次离子质谱 IMS 7f
二次离子质谱 IMS 7f
1、众多独立分析实验室的主力军
2、通用磁扇区二次离子质谱仪：比飞行时间（TOF）SIMS要快，比四级杆
SIMS质量分辨率要高
3、高灵敏度痕量元素分析：ppm-ppb级
4、痕量元素深度剖析：亚微米级横向分辨率，纳米级深度分辨率 参考价面议 -
LEAP 4000三维原子探针（3DAP）-原子探针断层分析术（APT）
三维原子探针显微术（3DAP），也称为原子探针断层分析术（APT），是一种具有原子级空间分辨率的测量和分析方法，它可以对不同元素的原子逐个进行分析，并给出纳米空间中不同元素原子的三维分布图形，分辨率接近原子尺度，是目前Z微观、且分析精度较高的一种定量分析手段。 参考价面议 -
加拿大LVEM5扫描电子显微镜ＳＥＭ
透射电子显微镜（ＴＥＭ）和扫描电子显微镜（ＳＥＭ）。与光学显微镜相比电子显微镜用电子束代替了可见光，用电磁透镜代替了光学透镜并使用荧光屏将肉眼不可见电子束成像。 参考价面议 -
加拿大LVEM5透射电子显微镜ＴＥＭ
透射电子显微镜（ＴＥＭ）和扫描电子显微镜（ＳＥＭ）。与光学显微镜相比电子显微镜用电子束代替了可见光，用电磁透镜代替了光学透镜并使用荧光屏将肉眼不可见电子束成像。 参考价面议 -
Ｘ射线衍射残余应力分析仪
残余应力是消除外力或不均匀的温度场等作用后仍留在材料内的自相平衡的内应力。机械加工和强化工艺都能引起残余应力。X射线衍射残余应力分析仪是通过XRD测量晶体材料衍射角变化（Δθ）从而得到晶格间距变化Δd，根据胡克定律和弹性力学原理，计算出材料的残余应力。在现代制造业中，无损的X射线衍射法是Z成熟、*的分析方法。 参考价面议 -
缺陷分析－超声波扫描显微镜（ＳＡＭ）
声学显微镜，学名是：扫描声学显微镜Scanning Acoustic Microscope，简称SAM。它是基于声波脉冲反射和透射原理工作的，只要声波信号在样品表面或者内部遇到声波阻抗（如遇到孔隙、气泡等），就会发生反射。
SAM主要用于材料浅表层结构分析、材料力学性能的检测、无损检测等。 参考价面议 -
形貌分析－多功能电子显微镜（ＴＥＭ－ＳＥＭ）
电子显微镜（electron microscope）是利用电子与物质作用所产生之讯号来监定微区域晶体结构，微细组织，化学成份，化学键结和电子分布情况的电子光学装置。常用的有透射电子显微镜（ＴＥＭ）和扫描电子显微镜（ＳＥＭ）。与光学显微镜相比电子显微镜用电子束代替了可见光，用电磁透镜代替了光学透镜并使用荧光屏将肉眼不可见电子束成像。
多功能电子显微镜将常见的ＴＥＭ、ＳＥＭ、ＳＴＥＭ、ＥＤ四种模式结合 参考价面议 -
Ｘ射线荧光－Ｘ射线衍射联用仪（ＸＲＦ－ＸＲＤ）
ＸＲＦ－ＸＲＤ联用仪是元素分析和结构分析的技术融合。
ＸＲＦ是进行元素快速检测分析的有效手段，通过Ｘ射线轰击原子层外的电子使得电子在不同电子层跃迁，电子跃迁时会释放特定的能量－荧光射线，通过捕捉荧光射线的能量即可实现元素的定性识别及含量分析。
ＸＲＤ是进行晶体物质结构分析的基础手段，可以得到晶体物质的结构信息及成分信息。ＸＲＦ－ＸＲＤ联用仪则将两种手段结合起来，可以实现晶体物质的元素定性定量、成分 参考价面议 -
晶体结构分析－便携式Ｘ射线衍射仪（ＸＲＤ）
ＸＲＤ（Ｘ ｒａｙ Ｄｉｆｆｒａｃｔｉｏｎ）是晶体物质结构分析的基本和*手段，自然界中的晶体物质都具有自己特定的且*的结构，我们俗称晶体的指纹谱；ＸＲＤ使用Ｘ射线照射晶体物质，在满足布拉格定律的情况下，射线和特定的晶体结构会产生特定的明暗相间的环－德拜环，通过探测器接收德拜环则可以表征出晶体物质的结构信息，从而进行晶体物质的物相、结构、结晶度、晶粒度等方面的分析。 参考价面议