DAISI-V2全自动单芯及MT-RJ连接器干涉仪 DAISI-V2全自动单芯及MT-RJ连接器干涉仪 

特性
单机测量PC/APC形式插芯，连接器及裸光纤
非接触式测量
快速自动聚焦
简单的一键式控制
伺服控制基准镜面用于自动顶点校准
业界的插芯夹具，带有自动锁紧功能
无外部运动部件或者调节螺丝
振动不敏感
PC与APC之间快速切换，无需更换插芯夹具
配备多种连接器适配器，特殊的设计使得装夹十分快捷
单独USB2.0连接线连接电脑
可扩展到白光扫描功能，用于测量MT-RJ
测量
快速自动测量曲率半径，顶点偏移，光纤高度等参数
测量光纤及插芯的表面粗糙度
高精度测量裸光纤切割角度
测量数据准确，重复性好
高清晰度2D & 3D图像
Excel格式测试报告及测试历史数据报告
干涉测量符合业界标准
本仪器主要测量以下几个参数：
 曲率半径--Ferrule Radius；
 顶点偏移--Apex Offset；
 光纤高度--Fiber Height
同时还可以测量光纤曲率半径、光纤平面高度、角度、键误差、光纤直径、光纤/插芯粗糙度及MT-RJ测试。

技术指标

*/**1 Sigma数值.

重复性数值基于50次连续测试，不碰连接器情况下测得.

再现性数值基于50次连续PC连接器测试，每次测试转动连接器情况下测得.

DAISI全自动生产用干涉仪，标配包含：

1. Blink测量软件一套，测量连接器端面几何参数

2. 硬件系统一套：包含1.25mm和2.5mm的法兰各一只，

E2000, FC宽键, FC窄键, SC, LC, MU适配器各一只

3.  便携箱一只

4.  MT-RJ测量模块及测量系统必要的硬件和软件升级(可选)

DAISI-V2人性化的简单软件操作界面