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LT-9031M共焦式位移计|基恩士雷射位移计LT系列
面议LT-9031共焦式位移计|基恩士雷射位移计LT系列
面议LT-9011M共焦式位移计|基恩士雷射位移计LT系列
面议LT-9011共焦式位移计|基恩士雷射位移计LT系列
面议LT-9501HSO（5654）共焦式位移计|基恩士雷射位移计LT系列
面议LT-9501H共焦式位移计|基恩士雷射位移计LT系列
面议LT-9001H 共焦式位移计|基恩士雷射位移计LT系列
面议
LS-3060 雷射扫描测微计|基恩士/KEYENCE
面议LS-3036雷射扫描测微计|基恩士/KEYENCE
面议LS-3034雷射扫描测微计|基恩士/KEYENCE
面议LS-3033SO（8073）雷射扫描测微计|基恩士/KEYENCE
面议LS-3033雷射扫描测微计|基恩士/KEYENCE
面议：
LT-9001HSO(5655)共焦式位移计|基恩士雷射位移计LT系列
LT-9001HSO(5655)共焦式位移计|基恩士雷射位移计LT系列
LT-9001HSO(5655)共焦式位移计|基恩士雷射位移计LT系列
共焦点方式による同軸光学系を採用。
対象物上で焦点の合った位置を測定する原理のため、「焦点の合った位置＝zui小スポット位置」となります。
全測定範囲でφ２μmの極小スポットを実現。微細ワークを正確に測定できます。
また測定部に小型CCDカメラを内蔵したことで、極小スポットを簡単に測定ポイントに合わせることができます。
搖動ユニットによってφ２μmのスポットをzui大1100μmまで水平移動できるため、形状?角度?面積が測定できます。
またアプリケーションの広がりだけでなく、スキャンデータの中で信頼性の高いデータを採用する光量積算機能を搭載し、安定測定を実現しました。
高精度非球面レンズを採用することにより高N.Aを実現。
測定対象物が傾いても反射光を受光することができるため、抜群の角度特性を発揮します。
高精度X-YステージKS-1100と組み合わせることで、３次元形状測定?解析ができます。
3次元測定システムの詳細はこちら
LT-9001H 共焦式位移计|基恩士雷射位移计LT系列
LT-9001H 共焦式位移计|基恩士雷射位移计LT系列
LT-9001H 共焦式位移计|基恩士雷射位移计LT系列
| 型式 | LT-9500 | LT-9500SO（5650） | ||
| 対応測定部 | LT-9010M | LT-9030M | ||
| 測定部互換性 | あり | |||
| 表示 | zui小表示単位 | 0.01μｍ、1μm2、0.01° | 0.01μm | |
| 表示範囲 | ±9999.99μm、 ±999999μm2、 ±9999.99° | ±9999.99μm | ||
| マイクロスコープ 機能 | あり | |||
| 表示周期※1 | 10回/秒 | |||
| 端子台 | アナログ出力 | ±10V ×2出力、出力インピーダンス100Ω | ||
| タイミング入力 リセット入力 オートゼロ入力 | 無電圧入力 | |||
| モニタ専用電源※2 | 24VDC | |||
| コント ロール I/O | 判定 モード3 | 3段階 判定出力 | OUT1、OUT2用 NPNオープンコレクタ出力 | |
| バイナリモード※3 | バイナリ 出力 | 測定データ出力（21bit） OUT1/OUT2/形状選択可 NPNオープンコレクタ出力 | ||
| ストローブ 出力 | NPNオープンコレクタ出力 | |||
| バイナリ 選択出力 | NPNオープンコレクタ出力 | |||
| バイナリ 選択入力 | 無電圧入力 | |||
| スタビリティ出力 | NPNオープンコレクタ出力 | |||
| レーザリモート 入力 | 無電圧入力 | |||
| プログラム 切換入力 | 無電圧入力 ×3入力 | |||
| RS-232Cインターフェース | 測定データ出力および制御入出力 （ボーレート115200bit/sまで選択可） | |||
| ビデオ出力 | NTSC準拠（PINコネクタ） | |||
| おもな 機能 | 変位モード※4 | 変位測定機能、 透明体厚測定機能、 角度測定機能、 相対角測定機能、 測定対象選択機能、 ダークアウト機能、 マスク機能、 トレンドグラフ表示機能、 スキャン幅/間隔変更機能 | 変位測定機能、 透明体厚測定機能、 測定対象選択機能、 ダークアウト機能、 マスク機能、 トレンドグラフ表示機能、 スキャン幅/間隔変更機能 | |
| 形状モード※4 | エリア選択（平均、zui大、zui小、 zui大－zui小、面積）機能、 エリア演算機能、 スキャン幅/間隔変更機能、 ダークアウト機能、 スムージング機能、 アベレージング機能、 形状データ出力機能 | － | ||
| 共通 | 光量積算機能、マイクロスコープ機能、公差判定機能、 8プログラムメモリ機能、校正機能、平均機能、 計測機能、オートゼロ機能、表示言語変更機能 | |||
| 定格 | 電源電圧 | AC100～240V±10％ 50/60Hz | ||
| 消費電力 | 110VA以下 | |||
| 過電圧カテゴリ | II | |||
| 汚染度 | 2 | |||
| 耐環 境性 | 使用周囲温度 | 0～＋35℃ | ||
| 使用周囲湿度 | 35～85％ＲＨ（結露しないこと） | |||
| 質量 | 約2.4kg | |||
NPNオープンコレクタ出力の定格は、zui大30mA（30V以下）、残留電圧0.5V。
無電圧入力の定格は、ON電圧1V以下、OFF電流0.6mA以下。
| 本製品は、外国為替および外国貿易法の規定により、輸出の許可が必要な貨物に該当しますので、日本国外に持ち出す際には、日本国政府への輸出許可申請等、必要な手続をお取りください。 ※なお、輸出規制非該当品も用意しております。別途お問い合わせください。 |
| 型式 | 高精度タイプ | ロングレンジタイプ | |
| LT-9010M | LT-9030M | ||
| 測定範囲 | ±0.3mm | ±1mm | |
| 基準距離 | 6mm | 30mm | |
| 光源 | 赤色半導体レーザ | ||
| 波長 | 655nm | ||
| 出力 | zui大170μW (JIS) | ||
| クラス | クラス1レーザ製品(JIS C6802) | ||
| スポット径 | 約φ2μm | 約φ7μm | |
| スキャン幅/間隔 | 0～1100μm（6段階）/ 1～10μm（4段階） | 0～560μm（6段階）/ 1～8μm（4段階） | |
| 分解能※1 | 0.01μm | 0.1μm | |
| 直線性※1 | ±0.5％ of F.S. | ±0.3％ of F.S. | |
| サンプリング周期 | 640μs～356ms（14段階）※2 | 640μｓ～187ms（14段階）※3 | |
| 温度特性 （＋20～＋30℃） | ±0.5％ of F.S. | ±0.25％ of F.S. | |
| マイクロ スコープ 機能 | あり | ||
| 視野 | 1.3mm×1.05mm | 2.5mm×2.0mm | |
| 照明光源 | 赤外LED（波長870nm） | ||
| 耐環境性 | 使用周囲 照度 | 白熱ランプ/蛍光灯：10000lx以下 | |
| 使用周囲 温度 | 0～＋35℃ | ||
| 使用周囲 湿度 | 35～85％RH（結露しないこと） | ||
| 質量 | 約400g | 約500g | |
| 本製品は、外国為替および外国貿易法の規定により、輸出の許可が必要な貨物に該当しますので、日本国外に持ち出す際には、日本国政府への輸出許可申請等、必要な手続をお取りください。 ※なお、輸出規制非該当品も用意しております。別途お問い合わせください。 |
| 型式 | LT-C2 | LT-C10 |
| コード長 | 2m | 10m |
| 質量 | 約200g | 約700g |
在自動化應用和感側應用中無可挑剔的表現。
拉線檢查
LT-9000系列表面掃描鐳射共軛焦位移計可用於查找因焊線機器的故障或調整不當所造成的焊接不良。影像會在熒幕上放大85倍，通過觀察這樣的影像可以很輕鬆的找到目標。LT-9000系列提供了世界首創的高精度表面掃面方式，zui小光束點的直徑只有2Em，即使面對很細的電線也能保證測量的可靠性。
檢測表面情況
LT-9000系列表面掃描鐳射共軛焦位移計可用於檢測晶片切割鑽石刀的表面情況並對鑽石層表面的孔眼進行控制。測量解析度爲0.01m，可以在監視器上顯示的輪廓波形中測量結果。LT-9000系列提供了世界首創的高精度表面掃面方式，確保精確的刀面輪廓測量。
檢測刻印深度
LT-9000系列表面掃描鐳射共軛焦位移計可用於測量IC塑膠模具上的刻印深度（刻印是由鐳射刻字機制作，顯示了許多數字和其他數據）。操作員可以一邊在監視器上觀察被放大了85倍的影像，一邊以0.01m的解析度測量目標物。使用移動平台就可以測量刻印的深度和寬度。測量解析度爲0.01m，可以在監視器上顯示的輪廓波形中測量結果。LT-9000系列提供了世界首創的高精度表面掃面方式，確保刀面輪廓測量的精確性。
檢測蝕刻深度
LT-9000系列表面掃描鐳射共軛焦位移計可用於檢測蝕刻的過程（蝕刻通常被用於在晶片上製作圖案）。可以將0.01m解析度下獲得的測量數據以輪廓波形圖顯示在監視器上。可以很輕鬆的測量蝕刻的深度或表面輪廓。LT-9000系列提供了世界首創的高精度表面掃面方式，即使面對潮濕的物體也能確保測量的精確性。
檢測凹槽深度
LT-9000系列表面掃描鐳射共軛焦位移計可用於精確測量飲料罐上的拉環凹槽的深度和輪廓。即使是光亮的物體也絲毫不會影響穩定性。操作員可以一邊在監視器上觀察被放大了85倍的影像，一邊以0.01m的解析度測量目標物。使用移動平台就可以測量凹槽的深度和寬度。測量解析度爲0.01m，可以在監視器上顯示的輪廓波形中測量結果。LT-9000系列提供了世界首創的高精度表面掃面方式，確保刀面輪廓測量的精確性。
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【品牌系列】 基恩士，欧姆龙，光洋，内密控
【型 号】 以上品牌所有型号
【产品类别】传感器，编码器，光纤，安全光栅，视觉系统等
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【价 格】电议
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