数位IC测试器GUT-6000A

GUT-6000A数位IC测试器GUT-6000A

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2016-08-31 09:46:12
202
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上海民仪电子有限公司

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产品简介

. 可量测之 IC 种类超过 1800 种 . 54/74 系列 TTL 及高速 CMOS . 4000 及 4500 系列 CMOS. Z大可测 Pin 数 : 28 Pin

详细介绍

. Loop 测试
. 自动搜寻 IC 编号功能
. 开机自我侦测诊断功能
. 过载保护功能
. 可量测之 IC 种类超过 1800 种
. 54/74 系列 TTL 及高速 CMOS
. 4000 及 4500 系列 CMOS
. zui大可测 Pin 数 : 28 Pin

GUT-6000A数位IC测试器 规格

测试范围
  54/74 系列 TTL 及高速 CMOS
4000 及 4500 系列 CMOS
55 及 75 系列 TTL
量测种类
  约 1800 种
测试电压
  5V DC
测试时间
  高测试速度,平均 0.8 秒可完成一个 IC
使用电源
  交流 110V/220V +10%, 50/60Hz
附件
  电源线 x 1, 操作手册 x 1
尺寸及重量
  335(宽) x 105(高) x 300(长) mm
约 1.5 公斤

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