半导电材料电阻率测试仪
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半导电材料电阻率测试仪

BEST-300C半导电材料电阻率测试仪

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2022-10-21 16:31:29
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北京北广精仪仪器设备有限公司

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产品简介

半导电材料电阻率测试仪BEST-300C四端测试法是目前较*之测试方法,主要针对高精度要求之产品测试;本仪器广泛用于生产企业、高等院校、科研部门,是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。

详细介绍

半导电材料电阻率测试仪BEST-300C

一、适用范围

四端测试法是目前较*之测试方法,主要针对高精度要求之产品测试;本仪器广泛用于生产企业、高等院校、科研部门,是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。

 

本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料之电导率。液晶显示,无需人工计算,并带有温度补偿功能,电导率单位自动选择,BEST-300C 材料电导率测试仪自动测量并根据测试结果自动转换量程,无需人工多次和重复设置。选配:配备软件可以由电脑操控,并保存和打印数据,自动生成图表和报表。

 

本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示,同时显示电阻值、电阻率、方阻、电导率值、温度、压强值、单位自动换算,配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购

提供中文或英文两种语言操作界面选择,满足国内及国外客户需求

二、符合标准:

GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》

GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》

GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》

并参考美国 A.S.T.M 标准

 

三、半导电材料电阻率测试仪BEST-300C电阻测量范围: 
1、电阻率: 10-6~2×106Ω.cm

电 阻:10-5~2×105Ω

电导率:5×10-6108ms/cm

分辨率:  小1μΩ
测量误差±5%

2、测量电压量程: 2mV   20mV  200mV 2V 
  测量精度±(0.1%读数)

分辨率:  0.1uV  1uV  10uV  100uV
3、⑴电流输出:直流电流 0~1000mA 连续可调,由交流电源供电。
   ⑵量程:1μA,10μA,100µA,1mA,10mA,1000mA, 
   ⑶误差:±0.2%读数±2字

4. 主机外形尺寸:330mm*340mm*120mm

5、显示方式:液晶显示6、电源:220±10% 50HZ/60HZ

7、标配:测试平台一套、主机一套、电源线数据线一套。

 

北广公司自主研发电性能专业检测仪器

序号

设备名称

设备型号

测试标准

测试指标

备注

1

电压击穿试验仪

BDJC10KV-150KV

GB1408、GB/T1695、GB/T3333、GB12656、ASTM D149

介电强度、泄漏电流

介电强度、泄漏电流

2

体积表面电阻测定仪

BEST-121

GB1410、ASTM D257GB/T 1692GB/T 2439 GB/T 10581GB/T 10064

体积电阻率、表面电阻率

液晶显示

3

体积表面电阻率测定仪

BEST-212

GB1410、ASTM D257GB/T 1692GB/T 2439 GB/T 10581GB/T 10064

体积电阻率、表面电阻率

液晶触摸、电阻、电阻率直接测试

4

导体电阻率测定仪

BEST -19

GB11210GB/T15662GB2439ASTM D991

导体电阻率

触摸屏

6

半导体电阻率测定仪

BEST-300C

GB/T 1551

半导体电阻率

触摸屏

7

高频介电常数测试仪

GDAT--A

GB1410

介电常数、介质损耗

测试频率50HZ-160MHZ

8

工频介电常数测试仪

BQS-37A

GB1410

介电常数、介质损耗

测试频率50HZ

9

耐电弧试验仪

BDH-20KV

GB1411-2002 IEC 61621

ASTMD495

耐电弧

微机控制、触摸屏控制

10

高压漏电起痕试验仪

BLD-6000V

 

高压等级测试

五组高压6KV

11

耐电痕化指数测定仪

BLD-600V

IEC60112、ASTM D 3638-92、DIN53480

漏电痕迹、电痕化CTI\\PTI

zui高电压600V

12

滑动摩擦磨损试验仪

M-200

GB3960

滑动摩擦,摩损性能测试

摩擦力、摩擦系数曲线显示

 

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