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北京市所在地
半导电材料电阻率测试仪BEST-300C
一、适用范围
四端测试法是目前较*之测试方法,主要针对高精度要求之产品测试;本仪器广泛用于生产企业、高等院校、科研部门,是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。
本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料之电导率。液晶显示,无需人工计算,并带有温度补偿功能,电导率单位自动选择,BEST-300C 材料电导率测试仪自动测量并根据测试结果自动转换量程,无需人工多次和重复设置。选配:配备软件可以由电脑操控,并保存和打印数据,自动生成图表和报表。
本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示,同时显示电阻值、电阻率、方阻、电导率值、温度、压强值、单位自动换算,配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购。
提供中文或英文两种语言操作界面选择,满足国内及国外客户需求。
二、符合标准:
GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》
GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》
GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》
并参考美国 A.S.T.M 标准
三、半导电材料电阻率测试仪BEST-300C电阻测量范围:
1、电阻率: 1×10-6~2×106Ω.cm
电 阻:1×10-5~2×105Ω
电导率:5×10-6~1×108ms/cm
分辨率: 小1μΩ
测量误差±5%
2、测量电压量程: 2mV 20mV 200mV 2V
测量精度±(0.1%读数)
分辨率: 0.1uV 1uV 10uV 100uV
3、⑴电流输出:直流电流 0~1000mA 连续可调,由交流电源供电。
⑵量程:1μA,10μA,100µA,1mA,10mA,1000mA,
⑶误差:±0.2%读数±2字
4. 主机外形尺寸:330mm*340mm*120mm
5、显示方式:液晶显示6、电源:220±10% 50HZ/60HZ
7、标配:测试平台一套、主机一套、电源线数据线一套。
北广公司自主研发电性能专业检测仪器
序号 | 设备名称 | 设备型号 | 测试标准 | 测试指标 | 备注 |
1 | 电压击穿试验仪 | BDJC10KV-150KV | GB1408、GB/T1695、GB/T3333、GB12656、ASTM D149 | 介电强度、泄漏电流 | 介电强度、泄漏电流 |
2 | 体积表面电阻测定仪 | BEST-121 | GB1410、ASTM D257、GB/T 1692、GB/T 2439 、GB/T 10581、GB/T 10064 | 体积电阻率、表面电阻率 | 液晶显示 |
3 | 体积表面电阻率测定仪 | BEST-212 | GB1410、ASTM D257、GB/T 1692、GB/T 2439 、GB/T 10581、GB/T 10064 | 体积电阻率、表面电阻率 | 液晶触摸、电阻、电阻率直接测试 |
4 | 导体电阻率测定仪 | BEST -19 | GB11210、GB/T15662、GB2439、ASTM D991 | 导体电阻率 | 触摸屏 |
6 | 半导体电阻率测定仪 | BEST-300C | GB/T 1551 | 半导体电阻率 | 触摸屏 |
7 | 高频介电常数测试仪 | GDAT--A | GB1410 | 介电常数、介质损耗 | 测试频率50HZ-160MHZ |
8 | 工频介电常数测试仪 | BQS-37A | GB1410 | 介电常数、介质损耗 | 测试频率50HZ |
9 | 耐电弧试验仪 | BDH-20KV | GB1411-2002 IEC 61621 ASTMD495 | 耐电弧 | 微机控制、触摸屏控制 |
10 | 高压漏电起痕试验仪 | BLD-6000V |
| 高压等级测试 | 五组高压6KV |
11 | 耐电痕化指数测定仪 | BLD-600V | IEC60112、ASTM D 3638-92、DIN53480 | 漏电痕迹、电痕化CTI\\PTI | zui高电压600V |
12 | 滑动摩擦磨损试验仪 | M-200 | GB3960 | 滑动摩擦,摩损性能测试 | 摩擦力、摩擦系数曲线显示 |