微量电子分析天平
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XS105DU微量电子分析天平

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2017-02-11 14:55:16
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产品简介

微量电子分析天平
介绍:
1.采用高精度、高分辨率后置式传感器,获得准确称量结果;
2.全自动校准技术(FACT),温度漂移和工厂时间设置触发的内置砝码自动校准,以及全自动线性校准技术,获得精确称量结果;
3.变量程设置(Deltarange)和双量程(Dualrange)设计,满足不同样品的称量需求;
4.触摸屏设计(Touchscreen),方便天平称量菜单和参数设置;

详细介绍

微量电子分析天平

介绍:

  1. 微量电子分析天平采用高精度、高分辨率后置式传感器,获得准确称量结果;
  2. 全自动校准技术(FACT),温度漂移和工厂时间设置触发的内置砝码自动校准,以及全自动线性校准技术,获得精确称量结果;
  3. 变量程设置(Deltarange)和双量程(Dualrange)设计,满足不同样品的称量需求;
  4. 触摸屏设计(Touchscreen),方便天平称量菜单和参数设置;
  5. 网络称盘(Smartgrid)、获得快速、稳定的称量结果;
  6. 易巧称量组件(Ergoclips),满足使用不同去皮容器的称量需求;
  7. 可移动的显示控制终端,方便使用;
  8. *可拆卸的防风罩设计,实现快速清洁;
  9. 内置RS232C通讯接口选件槽,方便连接打印机、电脑等外围设备;
  10. 优化天平适应性的称量参数设置、满足不同称量环境要求;
  11. 具有基础称量、统计称量、配方称量、密度测定等内置应用程序
  12. E-loader软件,实现天平软件的即使更新。

技术指标:

型号

XS105DU

zui大称量值

41/120g

可读性

0.01/0.1mg

zui大称量值重复性(s)

0.1mg

10g重复性(s)

0.05mg

线性

±0.2mg

1/2zui大称量1)四角误差

0.3mg

灵敏度漂移

0.0004%

灵敏度温度漂移2)

0.00015%/℃

灵敏度稳定性3)

0.0002%/a

典型称量时间4)

4s/1.5s

接口更新速率

23/s

防风罩有效高度(mm)

235

秤盘尺寸(mm)

78×73

天平外形尺寸(W×D×H)(mm)

263×453×322

 

/ 女生您好!

我是许愿  

这个是我 有什么问题随时我!

 

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