CH-1-ST测厚仪(薄膜) 

本测厚议适用于机械测量法测定塑料薄膜和薄片的厚度（不适用于压花的薄膜和薄片）。
本测厚仪执行GB-T6672-2001标准

CH-1-ST测厚仪(薄膜) 

◎量限:0-1mm
◎分度值:0.001mm  
◎上测头曲率半径:15-50mm 
◎测头对试样施加负荷:0.1-0.5N
◎测量精度: 100vm以内 <1vm/100-250vm <2vm/250vm <3vm 
◎执行标准:GB6672-86 
◎本测厚仪适用于机械测量法测定塑料薄膜和薄片的厚度(不适用于压花的薄膜和薄片).

◎量限:0-1mm
◎分度值:0.001mm  
◎上测头曲率半径:15-50mm 
◎测头对试样施加负荷:0.1-0.5N
◎测量精度: 100vm以内 <1vm/100-250vm <2vm/250vm <3vm 
◎执行标准:GB6672-86 
◎本测厚仪适用于机械测量法测定塑料薄膜和薄片的厚度(不适用于压花的薄膜和薄片).