荧光射线测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XDL 210

XDL 型X 射线光谱仪有着良好的*稳定性，这样就不需要经常校准仪器。XDL 系列仪器特别适用于客户经行质量控制、进料检验和生产流程监控。X射线荧光光谱仪，用于对保护和装饰涂料，量产的零件和印制板上的涂层进行手动或自动厚度测量。菲希尔荧光镀层分析仪FISCHERSCOPE X-RAY XDL 210适合镀层厚度测量的耐用仪器，即使大测量距离也可以测量（DCM，范围0-80mm）。配备一个固定的准直器和固定的滤片。适合测量点在1mm以上的应用；跟XUL类似。可选用自动测量的可编程工作台.

荧光射线测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XDL 210

荧光镀层分析仪XDL 210特征:

• 带玻璃窗口和钨靶的X射线管或带铍窗口和钨靶的微聚焦X射线管。*高工作条件:50KV,50W
• 射线探测器采用比例接收器
• 准直器：固定或4个自动切换，0.05 x0.05 mm 到 Ø 0.3 mm
• 基本滤片：固定或3个自动切换
• 测量距离可在0-80 mm范围内调整
• 固定样品支撑台 ，手动XY工作台
• 摄像头用来查看基本射线轴向方向的测量位置。刻度线经过校准，显示实际测量点大小。
• 设计获得许可，防护全面，符合德国X射线条例第4章第3节

典型应用领域:

• 大批量电镀件测量
• 防腐和装饰性镀层，如镍或铜上镀铬
• 电镀行业槽液分析
• 线路板行业如薄金，铂和镍镀层的策略
• 测量接插件和触点的镀层
• 电子和半导体行业的功能性镀层测量
• 黄金，珠宝和手表行业

菲希尔x-ray射线镀层测厚仪设计理念：

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 设计为界面友好的台式测量仪器系列。我们会根据样品平台的运行模式以及固定或者可调节的Z 轴系统来设定不同型号的仪器以满足实际应用的需求。XDL210：平面样品平台，固定的Z 轴系统
高分辨率的彩色视频摄像头具备强大的放大功能，可以定位测量位置。通过视频窗口，还可以实时观察测量过程和进度。配有马达驱动X-Y 样品平台的仪器还配备了激光点，可以辅助定位并快速对准测量位置。测量箱底部的开槽专为大而扁平的样品设计，可以测量比测量箱更长和更宽的样品。例如大型的线路板。所有的操作，测量数据的计算，以及测量数据报表的清晰显示都是通过强大而界面友好的WinFTM®软件在电脑上完成的。