tesa micro hite测高仪

tesa micro hite测高仪

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2022-09-27 08:58:42
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杭州朗多检测仪器有限公司

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产品简介

tesa micro hite测高仪:可以用来进行平面、平行面和圆柱面几何体的内尺寸、外尺寸、高度、深度或距离尺寸测量。同时可以进行一维或二维的测量。
自动搜索孔或轴的顶点,在动态探测中记录大、小值以及大小值之间的差值计算。TESA IG-13 数字式测头可以测量垂直度、直线度、平行度等偏差和跳动误差,并以ISO1101标准输出数据。

详细介绍

tesa micro hite测高仪

可以用来进行平面、平行面和圆柱面几何体的内尺寸、外尺寸、高度、深度或距离尺寸测量。同时可以进行一维或二维的测量。
自动搜索孔或轴的顶点,在动态探测中记录大、小值以及大小值之间的差值计算。TESA IG-13 数字式测头可以测量垂直度、直线度、平行度等偏差和跳动误差,并以ISO1101标准输出数据。
在电子测高仪上20 年的制造经验造就了高品质的设计,代表了当今的技术水平的发展;
生产现场检测的理想工具,在工作区没有任何电缆;
快速简单可靠测量,尤其是工件孔类;
365615 920 mm三种量程供您选择;
显示的分辨率为0.0005, 0.001, 0.01 0.1mm或转换为相等的英制单位;
通过计算机辅助精度(CAA)自动修正偏移误差可以极准确测量长度、直线度和垂直度;
具有和钢一样的膨胀系数(11.5×10-6k-1);
控制面板˜ID˜ ˜power panel˜ 通过交互式的数据处理和输出,可以引导操作者的操作;
无须人工计算;
可以通过编写程序循环测量99 个工件,每个测量循环包含相关尺寸极限值的64 个指标;
内置打印机用于数据输出或利用外部打印机以A4 纸打印;
RS 232 数据输出;
每台测高仪带有SCS 校准证明;
坚固镀镍基座包括三个支撑点和经过精研;
气垫用来在平板上方便地移动测高仪;
增量式玻璃光栅具有参考点,分度间隔20 µm。光电数值捕捉(TESA )
测量头安装在球形轴承上,通过花轮和曲柄的方法进行移动。驱动系统可以锁定和上紧。可附加微调装置(选项)。用恒定的测量力进行自动数值捕捉。图像或声音信号进行应答;

tesa micro hite测高仪


型号规格

TESA Micro-Hite

350

600

900

订货号

00730033

00730034

00730035

测量范围

mm

365

615

920

大允许误差(带标准附件)

(2+3L)μm,(L单位为米/L in m)

重复性(带标准附件)

2s≤1μm

运动速度

300 mm/s

测量力

1.6N

机械垂直度

μm

<7

<9

<11

主机重量

kg

33

38

45



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