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德国布拉本德Brabender转矩流变仪MetaStation 4E
面议德国布拉本德Internal mixers 350/350E型测量型密炼机
面议德国布拉本德Measuring Mixers 测量型密炼机
面议德国布拉本德独立式挤出机 KE 19
面议德国布拉本德Stand-alone Extruder KE 30 紧凑型挤出机
面议OLYMPUS BX53M型正置金相显微镜
面议三菱化学AQF陶瓷裂解管AQ3QMS
面议三菱化学水分仪玻璃棉-CK3V010
面议XOS 单波长X荧光氯含量分析仪 Clora
面议XOS 单波长X荧光硫含量分析仪 Sindie 7039
面议XOS 单波长X荧光磷含量分析仪 Phoebe
面议XOS 单波长X荧光硅含量分析仪 Signal
面议第五代飞纳电镜能谱一体机 Phenom ProX 是的集成化成像分析系统,分辨率提升 20%,进一步增加应用范围,更加适用于对电子束敏感的样品。借助该系统,既可观察样品的表面形貌,又可分析其元素组分。
研究样品时,得到样品的形貌信息只是解决了一半问题。获得样品的元素组分信息往往也是非常必要的。借助全面集成、特殊设计的能谱探测器,飞纳电镜能谱一体机 Phenom ProX 可以完善解决上述所有问题。
能谱仪是一种基于样品被电子束激发而产生 X 射线的分析仪器。Phenom 的能谱仪无论软件、硬件都是*集成设计在飞纳电镜能谱一体机 Phenom ProX 系统中。
Element Identification (EID) 软件可以使用户实现多点分析,检测样品的元素组分。此外,该软件还可以扩展到元素分析线面扫(mapping)功能。分步操作界面可以帮助用户更方便地收集、导出分析数据。
Phenom Pro | Phenom ProX | Phenom XL | |
光学放大 | 20 - 135 X | 20 - 135 X | 3 - 16 X |
电子光学放大 | 80 - 150,000 X | 80 - 150,000 X | 80 - 100,000 X |
分辨率 | 优于 8 nm | 优于 8 nm | 优于 14 nm |
数字放大 | Max. 12 X | Max. 12 X | Max. 12 X |
光学导航相机 | 彩色 | 彩色 | 彩色 |
加速电压 | 5 kV - 15 kV 连续可调 | 5 kV - 15 kV 连续可调 | 5 kV - 20 kV 连续可调 |
真空模式 | 高分辨率模式 降低荷电效应模式 | 高分辨率模式 降低荷电效应模式 | 高分辨率模式 降低荷电效应模式 高真空模式 |
探测器 | 背散射电子探测器 二次电子探测器 (选配) | 背散射电子探测器 二次电子探测器 (选配) | 背散射电子探测器 二次电子探测器 (选配) |