光敏电阻电性能测试用源表认准武汉生产厂家普赛斯仪表，数字源表是电学测试的仪器之一，是一种多用途仪器，特别适合现代半导体、纳米器件和材料、有机半导体、太阳能电池、印刷电子技术等领域。S系列源表是普赛斯历时多年打造的高精度、大动态范围、数字触摸的S先国产化的源表，集电压、电流输入输出及测量等多种功能，Z大输出电压达300V，最小测试电流达100pA，支持四象限工作，因此能广泛的应用于各种电气特性测试中，以下以气敏电阻应用为例，介绍普赛斯源表在气敏电阻上面的应用：

光敏电阻测试

阻值测试本质上是FIMV（加电流测电压）或FVMI（加电压测电流），获取IV曲线后计算阻值。

普赛斯源表具有丰富的电压电流量程：

  电压范围0.3mV~300V，电流范围100pA~1A

完善的上位机监测功能：

  支持多通道同步连续扫描，支持数据导出CSV

普赛斯仪表光敏电阻测试方案

N≤3路光敏电阻测试：

     推荐N台S100

 4≤N ≤12路光敏电阻测试：

     推荐CS400子卡+1003C主机：

     CS400支持4通道测试，1003C主机最多支持3卡，12通道使用3*CS400+1*1003C

12≤N ≤40路光敏电阻测试：

     推荐CS400子卡+1010C主机：

     CS400支持4通道测试，1010C主机最多支持10卡， 40通道使用10*CS400+1*1003C

40≤N 路光敏电阻测试：

     使用上述主机组合配置

普赛斯源表具体参数如下：

S100测试范围：

CS400测试范围：

以上是关于光敏电阻电性能测试用源表的方案介绍，更多有关源表应用于光敏电阻的方案的信息找普赛斯仪表专员为您介绍