产品型号：45MG

　　产品概述

　　45MG 仪器是一款带有各种标准测量功能和软件选项的高级超声测厚仪。这款特色的仪器与所有 Olympus 双晶和单晶测厚探头兼容，是一款集所有解决方案于一机的创新型仪器，可用于大多数测厚应用。

　　技术规格

　　测量

　　·双晶探头测量模式:从激励脉冲后的精确延 迟到个回波之间的时间间隔。

　　·自动回波到回波(可选):在两个连续底面回 波之间的时间间隔，不计漆层或涂层的厚度。

　　·穿透涂层测量(可选):利用单个底面回波， 测量金属的实际厚度和涂层厚度(使用 D7906-SM、D7906-RM 和 D7908 探头)

　　·单晶探头测量模式(可选):

　　模式 1：激励 脉冲与个底面回波之间的时间间隔

　　模式 2：延迟块回波与个底面 回波之间的时间间隔(使用延迟块式或水浸 式探头)

　　模式 3：在激励脉冲之后，位于个表面回波后的相邻底面回波之间的时间 间隔(使用延迟块式或水浸式探头)

　　·厚度范围:0.080 mm～635 mm，视材料、探头、表面条件、温度和所选配置而定(要测 量的范围需要使用单晶选项)

　　·材料声速范围:0.508 mm/μs～18.699 mm/ μs

　　·分辨率(可选择): 低分辨率：0.1 毫米 标准分辨率：0.01 毫米 单晶选项：0.001 毫米

　　·探头频率范围: 标准：2.25 MHz～30 MHz(–3 dB) 高穿透(单晶选项)：0.50 MHz～ 30 MHz(–3 dB)

　　一般规格

　　·操作温度范围:–10 ℃～50 ℃

　　·键盘:密封、以色彩区分功能的键盘，带 有触感及声音反馈