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CH-1-ST台式薄膜测厚仪主要特点： 1、采用高精密机械千表，测量精度高，稳定性和重复性好； 2、内部采用齿轮装配传动，可测量0-1000微米范围薄膜厚度； 3、上测头采用曲面测量头，符合国标GB/T6672-2001要求，测力小，符合0.1-0.5N范围； 4、测头经精密研磨，不容易生锈，机架稳定不容易变形，时效性好 5、测厚仪轻便小巧，可随身携带，适用于实验室或现场检测；
主要适用范围：
1、适用塑料包装行业，对塑料薄膜，薄片的厚度测量；
2、适用于测量隔膜、纸张、铜箔，铝箔、硅片等各种材料的厚度；
主要技术参数：
1. 测量范围 ： 0-1000μm
2. 分度值 ： 1μm
3. 测头端部的力：上测量面为SR15mm-SR50mm曲率半径，下测头为平面时，测头对试样施加的力为0.1N-0.5N；相当于10.2gf-51gf.
4. 测量精度（允许误差）：±（2~5）μm
5. 参照标准：GB/T6672—2001《塑料薄膜和薄片厚度的测定—机械测量法》，ISO4593《塑料—薄膜和薄片—用机械扫描法测定厚度》。
6、测量方式：手持式测量
7. 尺寸约：80mm*100mm*30mm
8. 重量约：0.6kg
