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产品概述
产品类型:能量色散X荧光光谱分析设备
产品名称:镀层厚度测试仪
型 号:iEDX-150WT
生 产 商:韩国ISP公司
亚太地区战略合作伙伴:广州鸿熙电子科技有限公司
产品图片:
X射线荧光光谱镀层厚度分析仪 iEDX-150WT
工作条件 | |
●工作温度:15-30℃ | ●电源:AC: 110/220VAC 50-60Hz |
●相对湿度:<70%,无结露 | ●功率:150W + 550W |
产品优势及特征
(一)产品优势
镀层检测,多镀层检测可达5层,精度及稳定性高(见以下产品特征详述)。
平台尺寸:620*525mm,样品移动距离可达220*220*10mm。(固定台可选)
激光定位和自动多点测量功能。
可检测固体、粉末状态材料。
运行及维护成本低、无易损易耗品,对使用环境相对要求低。
可进行未知标样扫描、无标样定性,半定量分析。
操作简单、易学易懂、无损、高品质、高性能、高稳定性,快速出检测结果。
可针对客户个性化要求量身定做辅助分析配置硬件。
软件*升级。
无损检测,一次性购买标样可使用。
使用安心无忧,售后服务响应时间24H以内,提供保姆式服务。
可以远程操作,解决客户使用中的后顾之忧。
可进行RoHS检测(选配功能),测试RoHS指令中的铅、汞、镉、铬、钡、锑、硒、砷等重金属,测试无卤素指令中的溴、氯等有害元素。亦可对成分进行分析。
(二)产品特征
高性能高精度X荧光光谱仪(XRF)X射线荧光光谱镀层厚度分析仪
计算机 / MCA(多通道分析仪)
2048通道逐次近似计算法ADC(模拟数字转换器)。
Multi Ray. 运用基本参数(FP)软件,通过简单的三步进行无标样标定,使用基础参数计算方法,对样品进行的镀层厚度分析。
可以增加RoHS检测功能。
MTFFP (多层薄膜基本参数法) 模块进行镀层厚度及全元素分析
励磁模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A1
吸收模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A2
线性模式进行薄镀层厚度测量
相对(比)模式 无焦点测量 DIN 50987.3.3/ ISO 3497
多镀层厚度同时测量
测试能力(基本配置:PIN探测器+0.3准直器)
当化金厚度在2u〞-5u〞时,测量时间为40S
准确度规格 ±5%
度规格 <5%(COV变动率)
当化金厚度 >5u〞时,测量时间为40S
准确度规格 ±5%
度规格<5%(COV变动率)
当化银厚度在5u〞-15u〞时,测量时间为40S
准确度规格 ±8%
度规格 <7%(COV变动率)
测化锡时,测量时间为40S
准确度规格 ±8%
度规格 <6% (COV变动率)
X射线荧光光谱镀层厚度分析仪准确度公式:准确度百分比=(测试10次的平均值-真值)/真值*99%
度COV公式: (S/10次平均值)*99%
Multi-Ray, Smart-Ray. WINDOWS7软件操作系统
完整的统计函数均值、 标准差、 低/高读数,趋势线,Cp 和 Cpk 因素等
自动移动平台,X射线荧光光谱镀层厚度分析仪用户使用预先设定好的程序进行自动样品测量。大测量点数量 = 每9999 每个阶段文件。每个阶段的文件有多 25 个不同应用程序。特殊工具如"线扫描"和"格栅"。每个阶段文件包含*统计软件包。包括自动对焦功能、方便加载函数、瞄准样品和拍摄、激光定位和自动多点测量功能。
产品配置及技术指标说明
u 测量原理:能量色散X射线分析 | u 样品类型:固体/粉末 |
u X射线光管:50KV,1mA | u过滤器:5过滤器自动转换 |
u检测系统:Pin探测器(可选SDD) | u能量分辨率:159eV(SDD:125eV) |
u检测元素范围:Al (13) ~ U(92) | u准直器孔径:0.1/0.2/0.3/0.5/1/4/4mm(可选) |
u应用程序语言:韩/英/中 | u分析方法:FP/校准曲线,吸收,荧光 |
u仪器尺寸:840*613*385mm | u样品移动距离:220*220*10 mm(自动台) |
X射线管:高稳定性X光光管,使用寿命(工作时间>18,000小时)
微焦点X射线管、Mo (钼) 靶
铍窗口, 阳极焦斑尺寸75um,油绝缘,气冷式,辐射安全电子管屏蔽。
50kV,1mA。高压和电流设定为应用程序提供性能。
探测器:SDD 探测器(可选Si-Pin)
能量分辨率:125±5eV(Si-Pin:159±5eV)
滤光片/可选
初级滤光片:Al滤光片,自动切换
7个准直器:客户可选准直器尺寸或定制特殊尺寸准直器。
(0.1/0.2/0.3/0.5/1/4/4mm )
平台:软件程序控制步进式电机驱动X-Y轴移动大样品平台。
激光定位、简易荷载大负载量为5公斤
软件控制程序进行持续性自动测量
样品定位:显示屏上显示样品锁定、简易荷载、激光定位及拍照功能
6. 分析谱线:
- 2048通道逐次近似计算法ADC(模拟数字转换)
- 基点改正(基线本底校正)
- 密度校正
- Multi-Ray软件包含元素ROI及测量读数自动显示
7.视频系统:高分辨率CCD摄像头、彩色视频系统
- 观察范围:3mm x 3mm
- 放大倍数:40X
- 照明方法:上照式
- 软件控制取得高真图像
8. 计算机、打印机(赠送)
含计算机、显示器、打印机、键盘、鼠标
含Win 7/Win 10系统。
Multi-Ray镀层分析软件
注:设备需要配备稳压器,需另计。