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激光剥蚀—激光诱导击穿光谱复合系统Tandem LA-LIBS
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面议TBSL1/RFB-4G–多类型传感器专用LTE RTU
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面议PlantScreen野外高通量植物表型分析平台
面议AisaIBIS是一款强大的、超高光谱分辨率的高光谱成像仪,由Specim公司与德国Juelich研究中心合作为欧洲(ESA)地球探测项目(FIEX)研发的Hyplant传感器,可检测太阳辐射诱导叶绿素荧光(Sun-induced Fluorescence),旨在提供范围的植被叶绿素地图,并将其转换为光合活动的指标。AisaIBIS适用于陆空双基植物叶绿素荧光高光谱成像测量分析。
AisaIBIS采用“夫琅和费线深度法”测量太阳辐射诱导的荧光。该方法在670 - 780 nm的特定光谱区域内,可对两条吸氧谱线底部的微弱荧光信号进行检测和定量。并结合Specim公司的高光通量(F/1.7)成像光谱仪和新颖的sCMOS成像技术,可在飞行条件下以较高的成像速率和优异的光谱采样间隔(0.11 nm)采集高质量、低噪声、高动态范围和信噪比的高光谱数据。