X荧光光谱仪DSF-R2款 是专门针对 RoHS、无卤、EN71、合金元素等检测分析设计的一款产品

打破传统仪器直线的设计，采用流线体的整体化设计，仪器时尚大方

本机采用 USB3.0 接口，保证了数据准确高速的传输

2.X荧光光谱仪硬件部分主要配置 

2.1 Si-PIN 电制冷半导体探测器 

 2.1.1 Si-PIN 电制冷半导体探测器；分辨率：149±5 电子伏特 

 2.1.2 放大电路模块:对样品特征 X 射线进行探测；把探测采集的信息,进一步放大 

2.2 X 射线激发装置 

2.2.1 灯丝电流>/大输出：1mA 

2.2.2 属于半损耗型部件，50W，空冷 

2.3 高低压电源 

2.3.1 电压>/大输出： 50kV 

2.3.2

2.3.3 自带电压过载保护 

2.4 多道脉冲幅度分析器 

2.4.1 将采集的模拟信号转换成数字信号,并将处理结果提供给上位机软件 

2.4.2 >/道数： 4096 

2.4.3 包含信号增强处理 

2.5 光路过滤模块 

 2.5.1 降低 X 射线光路发送过程中的干扰，保证探测器接收信号准确 

2.5.2 将准直器与滤光片整合 

2.6 准直器自动切换模块 

2.6.1 多达 7 种选择，口径分别为 8-1＃, 8-2＃, 8-3＃, 4＃，2＃, 1＃, 0.5＃ 

 2.7 滤光片自动切换模块 

2.7.1 五种滤光片的自由选择和切换 

2.8 准直器和滤光片的自由组合模块 

2.8.1 多达几十种的准直器和滤光片的自由组合 

2.9 工作曲线自动选择模块 

2.9.1 自动选择工作曲线，摒弃手动选择，避免人为操作失误，将自动化和智能化 演绎得 更，使操作更人性，更方便 

3. X荧光光谱仪软件配置 

 3.1 X荧光光谱仪 RoHS 有害元素分析软件 

 3.1.1 专门针对 RoHS 检测而开发，对采集的光谱信号进行数据处理、计算并报告 显示测量结果。 

3.2 X荧光光谱仪合金成分元素分析软件 

3.2.1 元素分析范围：从硫（S）到铀（U）

 3.2.2 一次可同时分析 24 个元素 

3.2.3 分析检出限可达 100PPM 

3.2.4 含量分析范围一般为 100ppm—99.9% 

3.2.5 软件自带多种图像处理和分析计算方法 

3.2.6 多次测量重复性可达 0.1％ 

3.2.7 长期工作稳定性为 0.1％ 

3.2.8 能量分辨率为 149±5eV 

3.2.9 软件自带多种图像处理和计算方法 

3.3 功能介绍 ※ 专门应对欧盟 RoHS 指令中六种物质涉及的五种元素 Cd, Pb, Hg, Br, Cr 测试， 测量时间为60-200 秒 ※ 合金（如黄铜、不锈钢等合金）所含元素含量分析 ※ 操作界面简洁直观，使用方便，无需专人操作