ICT-33C+集成电路测试仪

ICT-33C+ICT-33C+集成电路测试仪

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具体成交价以合同协议为准
2022-09-23 09:15:17
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产品简介

产品简介器件好坏判别：当不知被测器件的好坏时，仪器可判别其逻辑功能好坏

详细介绍

产品简介

  • 器件好坏判别：当不知被测器件的好坏时，仪器可判别其逻辑功能好坏。
  • 器件型号识别：当不知被测器件的型号时，仪器可依据其逻辑功能来判断其型号。
  • 器件老化测试：当怀疑被测器件的稳定性时，仪器可对其进行连续老化测试。
  • 器件代换查询：仪器可显示有无逻辑功能一致，引脚排列一致的器件型号。
  • 内部RAM缓冲区修改：仪器可对内部缓冲区进行多种编辑。
  • 微机通讯：仪器可通过串行口接受来自微机的数据或将内部RAM缓冲区的数据传送到微机。
  • ROM器件读入：仪器可将128K以内的ROM器件内的数据读入并保存。
  • ROM器件写入：仪器可将内部缓冲区的数据写入到128K以内的ROM器件中。

    适用范围

  • 维修各类电子产品，判断其集成电路故障。
  • 破译被抹去型号集成电路的真实型号。
  • 烧写各类EPROM、EEPROM、FLASH ROM、单片机片内ROM。
  • 开发各类智能电子产品，调试程序。
  • 检验新购器件的质量。

    可测器件种类

  • TTL74、54系列。
  • TTL75、55系列。
  • CMOS40、45、14系列。
  • 单片机系列。
  • EPROM、EEPROM、RAM、FLASHＲＯＭ系列。
  • 光耦合器，数码管系列。
  • 常用微机外围电路系列。
  • 其它常用电路及用户提供系列。
  • 运算放大器系列（单运放、双运放、四运放）。
  • 三端稳压器系列（78XX，79XX，317，337）。
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