沃特世SYNAPT G2-Si HDMS三维分辨率CID与ETD碎裂功能

沃特世SYNAPT G2-Si HDMS三维分辨率CID与ETD碎裂功能

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2022-10-25 13:10:28
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产品简介

重新定义分辨率——三维分辨率信息

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重新定义分辨率——三维分辨率

信息。信息学。影响力。通过优秀的质谱性能、行业优秀的信息学和很好的平台通用性,SYNAPT G2-Si可以对复杂混合物和分子进行详尽表征。

  • 利用高效T-Wave IMS实现高效的分离
  • 优良的UPLC/MS/MS性能
  • 数据独立型和数据依赖型T-Wave IMS解决方案
  • CID与ETD碎裂功能
  • 多种实验类型选择

利用高效T-Wave IMS实现出色的分离

保留。迁移。质量。某些情况下,色谱和质量数分辨率还不能满足要求。借助高效T-Wave离子淌度技术,您可以在分子大小和形状的基础上获得另一个分离维度。利用分子碰撞截面特性这一项的功能,可以提供高水平的选择性、特异性、灵敏度和结构分析。其优点还包括同分异构体分离、消除干扰、生成更干净的谱图,以及更准确地识别化合物ID。

 

优异的UPLC/MS/MS性能

将StepWave和UPLC分离与定量飞行时间(QuanTof)技术相结合,实现较高的峰容量和数据质量。StepWave是目前灵敏和可靠的离子源,具有“主动”选择离子和“被动”防止中性污染物的功能。

与其他所有质谱分析器不同,QuanTof能够提供高质量数高分辨率、精确质量数和准确的同位素比例、宽的动态范围(谱图内和定量)和m/z范围,并且都可以在较快的采集速率实现,即便是对于高基质负荷的样品也是如此。

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数据独立型和数据依赖型T-Wave IMS解决方案

适用范围和效率优良,适用于复杂混合物的分析。通用型UPLC/HDMSE采集技术可以记录每个可检测的分子离子的碎片离子数据,与其它“数据独立型分析”(DIA)技术相比,具有良好的占空比;同时我们的HDMS信息学技术可以为各种各样的应用提供精简的数据分析流程。 要想获得更高效、更有效的靶向MS/MS,请选用启用T-Wave IMS的工作流程。提高MS/MS灵敏度,利用HD-DDA(数据引导分析)在研发实验中实现更高的覆盖;并结合HD-MRM,使用靶分子的任何碎片来获得更低的定量限。

 

CID与ETD碎裂功能

TriWave的双碰撞室结构可提供碰撞诱导解离(CID)和/或电子转移解离(ETD)碎裂,并且同时得到高分辨率和精确质量数,从而获得更好的MS/MS检测结果。高解析度四极杆包括4KDa、8KDa或32KDa质量数范围,适用于从小分子到大分子的MS/MS测定。

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多种实验类型选择

沃特世的离子源结构可与各种技术相结合:对于分离,可结合UPLC、nanoUPLC、HDX Automation、APGC和UPC2;对于电离,可结合ESI、APCI、ASAP、 DESI、DART和LDTD。它们可快速互换,在几分钟内即可使用。 对于直接进样分析方法,T-Wave IMS可提供优秀的电离后选择性与特异性。在与高性能可以与大气压离子源快速切换MALDI选件结合时,这一点具有非常明显的优势。

 


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