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仪器用途:该仪器适用于以二维坐标测量为目标的,用于LCD、LED、IC芯片需要同轴金相量测等行业。
仪器特点:强大的YR-VT测量软件,可实现所有二维平面测量功能,还具备拍地图、产品轮廓扫描、专业SPC统计、手动CNC、宏测量等功能。Z轴升降采用大理石柱,可实现Z非接触式精确测量和平面度测量。
仪器型号 | YVM-2010JVT | YVM-3020JVT | YVM-4030JVT | YVM-5040JVT | |
量测行程 | 200*100*220mm(X.Y.Z) | 300*200*220mm(X.Y.Z) | 400*300*220mm(X.Y.Z) | 500*400*220mm(X.Y.Z) | |
X.Y.Z最小显示值 | 0.001mm | ||||
测量精度 | X.Y Axis:(3+L/200)μm | ||||
重复性精度 | 3μm | ||||
测量方式 | 影像式 | ||||
影像放大倍率 | 96~624X(可扩展至120~1560X) | ||||
CCD | 43万像素彩色高清晰度摄影机(SONY芯片) | ||||
镜头 | 高清晰度0.7~4.5Xzoom同轴光变焦镜头 | ||||
工作距离 | 20mm(影像) | ||||
电脑 | 品牌电脑 | ||||
测量软体 | YR-VT(可实现Z轴精确测量和平面度测量) | ||||
升降立柱 | 花岗石立柱 | ||||
仪器基座 | 000级高稳定性花岗石底座 | ||||
照明 | 上光源采用同轴光照明 下光源采用LED无影灯 | ||||
外观尺寸 | 500*550*950mm | 700*650*950mm | 980*750*950mm | 1050*800*950mm | |
仪器重量 | 175kg | 180kg | 300kg | 500kg | |
选购件 | 金相物镜 5X、10X |