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全谱谱线图

CCD+CMOS全谱分析技术

 丰富的谱线信息，分析灵敏线更多，保证分析的准确度；

 基于全谱测量的数据，能够正确区分背景和谱线，有效提高测量精度；

 智能选择合适的灵敏线，通过多谱线结合技术，实现低中高含量段的检测需求；

 基于全谱测量数据的多峰拟合技术，有效消除谱线干扰，实现精确测量。

                 CMOS线阵传感器        

的实时智能漂移校正技术

 在分析过程中实时进行光谱漂移校正，增强仪器稳定性；

 减少标准化校正次数，延长校正周期；

 自动完成仪器校正，操作更加简便。

                                                                                         谱线漂移校正

的CMOS检测技术优于CCD

 CMOS相比CCD具有更高的灵敏度和响应速度；