2、基于串联谐振原理的《WGJSTD-B/B1介质损耗及介电常数仪》是测试系统的二次仪表，其数码化主调电容器的**设计代表了行业的*高成就，随之带来了频率、电容双扫描(B1型)的全新搜索功能。该表具有的人机界面，采用LCD液晶屏显示各测量因子：Q值、电感L、主调电容器C、测试频率F、谐振趋势指针等。高频信源采用直接数字合成,测试频率10KHz-60MH或200KHz-160MHz，频率精度高达1×10^-6。国标GB/T 1409-2006规定了用Q表法来测定电工材料高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)，把被测材料作为平板电容的介质，与辅助电感等构成串联谐振因子引入Q表的测试回路，以获取*高的测试灵敏度。因而Q表法的测试结果更真实地反映了介质在高频工作状态下的特征。

WGJSTD-B/B1介质损耗及介电常数仪的全数字化界面和微机控制使读数清晰稳定、操作简便。操作者能在任意点频率或电容值的条件下检测Q值甚至tanδ，无须关注量程和换算，摒弃了传统Q表依赖面板上印制的辅助表格操作的落后状况，它无疑是电工材料高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)测量的理想工具。

3、数据采集和tanδ自动测量控件（装入WGJSTD-B或B1)，实现了数据采集、数据分析和计算的微处理化，tanδ 测量结果的获得无须繁琐的人工处理，因而提高了数据的**度和测量的同一性，是人工读值和人工计算的。

4、一个高品质因数（Q)的电感器是测量系统的辅助工具，关乎测试的灵敏度和精度，在系统中它与平板电容（S916）构成了基于串联谐振的测试回路。本系统推荐的电感器为LKI-1电感组，共由9个高性能电感器组成，以适配不同的检测频率。