微处理器控制异频介质损耗测试仪
微处理器控制异频介质损耗测试仪
微处理器控制异频介质损耗测试仪

微处理器控制异频介质损耗测试仪

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2024-10-19 18:19:24
70
产品属性
关闭
扬州中悦电气有限公司

扬州中悦电气有限公司

免费会员
收藏

组合推荐相似产品

产品简介

异频介质损耗测试仪参数,测量过程由微处理器控制,只要选择好合适的测量方式,数据的测量就可在微处理器控制下自动完成; 一体化机型,内附标准电容和高压电源,便于现场测试,减少现场接线。

详细介绍

 

异频介质损耗测试仪参数

 

产品简介:

仪器为一体化结构,内置介损电桥、变频电源、试验变压器和标准电容器等。采用变频抗干扰和傅立叶变换数字滤波技术,全自动智能化测量,强干扰下测量数据非常稳定。测量结果由大屏幕液晶显示,自带微型打印机可打印输出。

 

工作原理:

仪器测量线路包括一路标准回路和一路测试回路,如图三所示。

标准回路由内置高压稳定度标准电容器与标准电阻网络组成,由计算机实时采集标准回路电流与测试回路的电流幅值及其相位差,并算出被测试品电容容值(CX)和介质损耗(tgδ)。

数据采集电路全部采用高压稳定器件,采集板和采集计算机被铁盒*浮空屏蔽,仪器外壳接地屏蔽;另外使用了光导数据、浮空地、大面积地、单点地、数字滤波等抗干扰技术,加之计算机对数百个电网周期的数据进行处理,使测量结果稳定、精确、可靠。

 

产品参数:

准确度:   Cx:     ±(读数×1%+1pF)
tgδ: ±(读数×1%+0.00040)
抗干扰指标: 变频抗干扰,在200%干扰下仍能达到上述准确度
电容量范围: 内施高压: 3pF~60000pF/10kV    60pF~1μF/0.5kV
外施高压: 3pF~0.5μF/10kV     60pF~10μF/0.5kV
分辨率:      z高0.001pF,4位有效数字
tgδ范围:    不限,分辨率0.001%,电容、电感、电阻三种试品自动识别。
试验电流范围:10μA~1A
内施高压:设定电压范围:0.5~10kV   电压分辨率:1V    精度:2%
z大输出电流:200mA
升降压方式:连续平滑调节
试验频率: 45、50、55、60、65Hz单频
                   45/55Hz、55/65Hz、47.5/52.5Hz自动双变频
频率精度:±0.01Hz
外施高压:正接线时大试验电流1A,工频或变频40-70Hz
                  反接线时大试验电流10kV/1A,工频或变频40-70Hz
CVT自激法低压输出:输出电压3~50V,输出电流3~30A
测量时间:约36s,与测量方式有关
输入电源: 180V~270VAC,50Hz±1%,市电或发电机供电
计算机接口: 标准RS232接口

异频介质损耗测试仪参数 

637319845710852826751.jpg

上一篇:虹润推出新品:PH80系列酸碱度记录仪
热线电话 在线询价
提示

请选择您要拨打的电话:

温馨提示

该企业已关闭在线交流功能