高效薄窗Ｘ光管；进队合金的测试而开发的配件；ＳＤＤ硅漂移探测器，良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，较高的峰背比。低能X射线激发待测元素，对Si、P等轻元素激发效果好；智能抽真空系统，屏蔽空气的影响，大幅扩展测试的范围。
应用领域：钢铁检测、全元素分析、有害元素检测（RoHS、卤素等）
产品型号：EDX 4500
产品名称：X荧光光谱仪 测量元素范围：从钠（Na）到铀（U） 元素含量分析范围： ppm—99.99%（不同元素，分析范围不同） 同时分析元素：一次性可测几十种元素 测量时间：60秒-200秒 探测器能量分辨率为：145±5eV 管压：5KV-50KV 管流：50μA-1000μA 测量对象状态：粉末、固体、液体 输入电压：AC 110V/220V 环境温度：15℃-30℃ 环境湿度：35%-70% 外形尺寸：660mm×510mm×350mm 样品腔体积：Φ320mm×100mm 重量：65Kg 性能特点 薄窗X光管，指标达到国际*水平 数字多道技术，让测试更快，计数率达到100000CPS，精度更高。在合金检测中效果更好 SDD硅漂移探测器，良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，较高的峰背比 低能X射线激发待测元素，对Si、P等轻元素激发效果好 智能抽真空系统，屏蔽空气的影响，大幅扩展测试的范围 自动稳谱装置保证了仪器工作的一致性 高信噪比的电子线路单元 针对不同样品自动切换准直器和滤光片，免去手工操作带来的繁琐 解谱技术使谱峰分解，使被测元素的测试结果具有相等的分析精度 多参数线性回归方法，使元素间的吸收、增大效应得到明显的抑制 内置高清晰摄像头 液晶屏显示让仪器的重要参数（管压、管流、真空度）一目了然 标准配置 薄窗X光管 SDD硅漂移探测器 数字多道技术 钢铁行业测试配件 光路增强系统 高信噪比电子线路单元 内置高清晰摄像头 自动切换型准直器和滤光片 自动稳谱装置 三重安全保护模式 相互独立的基体效应校正模型 多变量非线性回归程序 整体钢架结构，力度可靠的保证 90mm×70mm的液晶屏 真空泵 应用领域 钢铁检测、全元素分析、有害元素检测（RoHS、卤素等）
