TT110/120 超声波测厚仪
主要参数:测量范围(钢):1.2~225.0mm(5MHz探头)管材下限(钢):φ20×3.0mm探头接触面积:φ10mm显示分辩率:0.1mm 参考价面议TT100/130 超声波测厚仪
主要参数:测量范围(钢):1.2~225.0mm(5MHz探头)管材下限(钢):φ20×3.0mm探头接触面积:φ10mm 参考价面议TT300 超声波测厚仪
主要参数:测量范围(钢):0.75~300.0mm(由探头确定)管材下限(钢):φ15×2.0mm;φ20×3.0mm显示分辩率:0.1mm/0.01mm外形尺寸:152×74×35mm;重量:370g*RS232接口;波特率可选:1200、2400、4800、9600可与TA220S微型打印机连接,也可连接PC机 参考价面议MP系列电子天平
型号技术参数型号技术参数MP1002100g/0 参考价面议JA/JH系列电子精密天平
参考价面议FA/FC系列电子天平
型号技术参数FA1004100g/0 参考价面议GBS-60B型 数显自动杯突试验机
该机采用的微处理器系统进行控制,所有测试结果均由液晶屏显示,实现界面化参数设置 参考价面议XJU-22悬臂梁冲击试验机
该系列冲击试验机分为简支梁、悬臂梁、拉伸冲击及组合冲击四大类型 参考价面议荧光显微镜 XSP-22T(倒置型)
荧光显微镜XSP-22T(倒置型)一、仪器用途:XSP22T系列荧光显微镜是由倒置显微镜和落射荧光装置组成 参考价面议XSP-21C型荧光显微镜
XSP-21C型荧光显微镜一、仪器用途:XSP-21C型荧光显微镜是由生物显微镜和落射荧光装置组成,广泛应用于生物学、医学、免疫学、肿瘤学、遗传学、材料科学等领域 参考价面议37XBY倒置荧光显微镜2
37XBY倒置荧光显微镜一、仪器用途:37XBY倒置荧光显微镜是由倒置显微镜和落射荧光装置组成 参考价面议显微熔点仪 X-4
显微熔点仪X-4一、仪器用途:物质的熔点是指该物质由固态变为液态时的温度 参考价面议