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微机控制电子*材料试验机;电子*材料试验机;*材料试验机;*材料拉力试验机 |
微机控制电子*材料试验机使用范围及技术说明: |
1.该机为材料力学性能测量与试验设备,可进行各种金属、非金属材料及制品的拉 伸、压缩、弯曲等项目的检测。可以自动检测出抗拉(压)强度、延伸率(或变形)、定力值、定伸长、弹性模量、低周疲劳等参数,并能显示各种应力应变曲线。 |
2.该仪器设备使用控制技术,通过日本进口控制器控制伺服马达,带动同步带使两副高精度滚珠丝杠移动试台,试台能以0.001~250mm/min速度运行。在测力源上使用美国*高精度传感器,其精度达到0.2‰,灵敏度高,整个系统达到1级精度,位移精度为示值的±0.5%;变形测量精度为示值的±0.5%。 |
微机控制电子*材料试验机依据标准: |
符合GB/T及ISO、ASTM、JIS、DIN等金属、非金属材料及制品的拉伸、压缩、弯曲等试验方法标准的要求。 |
微机控制电子*材料试验机技术参数: |
1.规格:TZ-1000A-50000; |
2.精度等级:1级; |
3.zui大负荷:50KN; |
4.有效测力范围:100N-50KN; |
5.测力精度 :示值的±1%以内; |
6.试验力分辨率:zui大负荷250000码:内外不分档,且全程分辨率不变; |
7.有效试验宽度:540mm; |
8.有效拉伸空间:650mm; |
9.试验速度范围:0.001~250mm/min无级调速; |
10.速度精度:示值的±1%以内; |
11.位移测量精度:示值的±0.5%以内; |
12.变形测量精度:示值的±0.5%以内; |
13.试台升降装置:快/慢两种速度控制,可点动; |
14.试台安全装置:电子限位保护; |
15.试台返回:手动可以zui高速度返回试验初始位置,自动可在试验结束后自动返回; |
16.超载保护:超过zui大负荷10%时自动保护; |
17.AC220V±10% 2KW; |
18.主机尺寸:960×650×2000mm; |
19.主机重量:约1200kg; |
微机控制电子*材料试验机配置: |
1.主机50KN一台; |
2.机内含有: |
①50KN美国全力高精度传感器一支(精度FS±0.02%); |
②日本松下进口全数字交流伺服电机系统一套; |
③中国台湾工机牌高精度减速机一台; |
④中外合资产高精度滚珠丝杠两副; |
3.KPTest V4.0测控系统及软件一套(测控系统可进行拉伸、压缩、弯曲、剪切、剥离、撕裂等试验,可根据客户产品要求按GB、ISO、JIP等标准编制;测控软件根据GB228-2002标准能自动求取zui大试验力、断裂力、屈服点、抗拉强度、弯曲强度,弹性模量、伸长率、定伸长应力、定应力伸长等参数。); |
4 |
5 |
①楔形拉伸夹具一套(含平板钳口和V型钳口各一套); |
②压缩夹具一套; |
③弯曲夹具一套; |
6. 电脑桌一张; |
微机控制电子*材料试验机技术性能的描述: |
1.功能 |
a.自动清零:计算机接到试验开始指令,测量系统便自动清零; |
b.自动返车:自动识别试验断裂后,活动横梁自动高速返回初始位置; |
c.自动换档:根据负荷大小自动切换到适当的量程,以确保测量的精度; |
d.自动存盘:试验数据和实验条件自动存盘,杜绝因突然断电忘记存盘引起的数据丢失; |
e.自动变速:试验过程中横梁速度可按预先设定的程序自动化,也可手动变化; |
f.自动校验:系统可自动实现示值的准确标定; |
g.测试过程:试验过程及测量、显示、分析等均由微机完成; |
h.显示方式:数据和曲线随试验过程动态显示; |
I.结果再现:试验结果可任意存取,可对数据曲线再分析; |
J.曲线遍历:试验完成后,可用鼠标找出试验曲线逐点的力值和变形数据,对求取各种材料的试验数据方便实用; |
K.结果对比:多个试验特性曲线可用不同颜色叠加、再现、放大,呈现一组试样的分析比较; |
L.曲线选择:可根据选择应力-应变、力-时间、强度-时间等曲线进行显示和打印;M.批量试验:对参数相同的试验一次设定后可顺次完成一批试样的试验; |
N.试验报告:(标准格式) |
①拉伸:zui大力、抗位强度、断裂伸长率、弹性模量 |
②压缩:zui大力、压缩强度 |
…… |
也可按用户要求的格式对试验报告进行编程和打印; |
o.横梁微调:配有微调功能用以实现横梁的细微调整,在标定校验时方便实有; |
p.限位保护:具有程控和机械两级保护; |
q.过载保护:当负载超过额定值的10%时停机; |
r.紧急停机:设有急停开关,用于紧急状态切断整机电源; |
s.自动诊断:系统具有自动诊断功能,定时对测量系统、驱动系统进行过压、过流、超温等检查,出现异常情况即刻停机; |
t.一机多用:通过配置不同规格的传感器,连接系统测量软件,实现一机多用; |
采样速率达100次/s; |
u.可实现主机和微机而独立操作; |
2.硬件:硬件系统采用美国集成电路,满量程同一分辨率。克服了传统试验机的分档放大切换迟滞以及不同档分辨率不同的弊端。加快了系统的采样速率,提高了测控系统的精度和稳定性。从而使试验机结果符合科学、保真输出。 |