MC-2002涂层测厚仪

MC-2002涂层测厚仪

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2023-07-27 21:16:50
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产品简介

MC-2002涂层测厚仪具有测量误差小、可靠性高、稳定性好、操作简便等特点,是控制和保证产品质量的检测仪器,广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域

详细介绍

  MC-2002涂层测厚仪具有测量误差小、可靠性高、稳定性好、操作简便等特点,是控制和保证产品质量的检测仪器,广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。磁感应涂层测厚仪和电涡流涂层测厚仪,是的两种涂层测厚仪。涂层测厚仪可无损地测量磁性金属基体(如钢、铁、合金和硬磁性钢等)上非磁性涂层的厚度(如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等) 及非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上非导电覆层的厚度(如:珐琅、橡胶、油漆、塑料等)。

磁性法(磁感应原理):当测头与覆层接触时,测头与磁性金属基体构成一闭合磁路,由于非磁性覆层的存在,使磁路磁阻发生变化,通过测量其变化量,可测得其覆层的厚度。

  磁性原理涂层测厚仪可以应用在精确测量钢铁表面的油漆涂层,瓷、搪瓷防护层,塑料、橡胶覆层,包括镍铬在内的各种有色金属电镀层,化工石油行业的各种防腐涂层。对于感光胶片、电容器纸、塑料、聚酯等薄膜生产工业,利用测量平台或辊(钢铁制造)也可用来实现大面积上任一点的测量。
MC-2002涂层测厚仪图片:

MC-2001涂层测厚仪.jpg

  磁性涂层测厚仪影响测量的若干因素如下:

(1),基体金属磁性变化;

(2),测量基体金属厚度;

(3),边缘效应;

(4),测量件曲率;

(5),被测物体表面粗糙度;

(6),附着物质;

(7),测量过程中探头的放置;

(8),试片的变形及试片本身的误差;

(9),测量次数。

  MC-2000系列涂层测厚仪校准方法

1仪器校零

1.1将测量探头压在铁基上(或不带涂层的测量体上),再轻按一下校零键ZWRO进行校零。在按ZERO键时,测量探头在铁基上不要晃动。同时要注意,只有在按完ZERO键后,才能提起探头,否则,校零不正确。

1.2将测量探头提起(或不带涂层的测量体上),观察铁基上的测量值,若测量值在0附近,说明校零成功,否则,应得新校零。

2仪器校满度

2.1根据要测量的涂层厚度,选择   适当的标准膜片,进行满度校准。

2.2先将标准膜片放在铁基上(或不带涂层的测量体上)。

C2.3再将测量探头压在标准膜片上,测量值就显示在显示器上,若测量值与标准膜片不同,测量值可通过加1键或减1键来修正。修正时,测量探头一定提起,否则,按加1键或减1键无效。

2.4为保证校满度的准确性,可通过多次测同一标准膜片来验证。

  MC-2002涂层测厚仪技术参数:

 显示器:4位10mm液晶

MC-2002 测试范围:0-2000um

 分辨率:1um

 测量精度:±(3%+1) um

 电源:4节5号电池

 操作条件:温度0~40℃湿度<>

 尺寸:161×69×32mm

                重量:260g(包括电池)

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