涂层测厚仪TT220
涂层测厚仪产品介绍：
 
   涂层测厚仪TT220采用了磁性测厚法，是一种超小型测量仪，它能快速、无损伤、
精颏地进行铁磁性金属基体上的覆层厚度的测量。可广泛用于制造业、金属加工业、
化工业、商检等检测领域。由于该仪器体积小，测头与仪器一体化，特别适用于工
程现场测量。

涂层测厚仪要功能　　
涂层测厚仪可进行零点校准及二点校准。　　
涂层测厚仪可对测头进行基本校准。　　
涂层测厚仪设有五个统计量：平均值（MEAN）、zui大值（MAX）、zui小值（MIN）、
测试次数（NO）、涂层测厚仪标准偏差（S.DEV）。　　
涂层测厚仪可存贮和统计计算15个测量值。　　
涂层测厚仪具有两种测量方式：连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE）。　　
涂层测厚仪具有自动关机功能。　　
涂层测厚仪删除功能：对测量中出现的单次可疑数据进行删除，也可删除存
贮区内的所有数据，以便进行新的测量。 　　
涂层测厚仪操作过程有蜂鸣声提示。　　有欠压指示功能。　　有错误提示功能。

涂层测厚仪主要技术指标　　
涂层测厚仪测量原理：磁性法　　
涂层测厚仪测量范围: 1～1250μm 　　
涂层测厚仪测量精度：±（3%H+1）μm（零点校准）　　　　　　　
          ±[(1～3)%H+1] μm（二点校准）