X荧光光谱分析仪iEDX-150WT（镀层测厚仪）

详情介绍

一、产品概述

产品类型： X荧光光谱仪 

产品名称： 镀层测厚仪 (可选配镀液检测，RoHS检测，合金分析功能）

型    号： iEDX-150WT

生 产 商： 韩国ISP公司

二、产品优势

1. 镀层检测，最多镀层检测可达5层。

2. 对于薄镀层分析精确，可以精确的分析小于1uin(0.025um）的镀层，可以准确分析0.2-0.5uin的金层。

3. 可同时进行选配RoHS检测功能，精确的测试RoHS指令中的铅、汞、镉、铬、钡、锑、硒、砷等重金属，测试无卤素指令中的溴、氯等有害元素。

4. 可同时进行选配镀液药水分析功能，一分钟即可分析出药水内金，镍，铜等药水含量，分析精度为0.01ppm，

5. 可同时进行选配合金成分分析功能。

6. 开槽式超大可移动全自动样品平台610*525 (长*宽)，样品移动距离可达112*2X5mm(长*宽*高) ；专为线路板行业研制。

7. 激光定位，可以连续自动多点程控测量；

8. 可以选配多准直器系统，单准直器/6个准直器/7个准直器。

9. 可检测固体、液体、粉末状态材料；

10. 运行及维护成本低、无易损易耗品，对使用环境相对要求低；

11. 可进行未知标样扫描、无标样定性，半定量分析；

12. 操作简单、易学易懂、高品质、高性能、高稳定性，快速出检测结果（20-40秒）；

13. 标配德国AmptekSI-Pin 探测器，选配高精度硅漂移SDD探测器，保证测试精度。

14. 软件支持无标样分析。

15. 相对于传统镀层，开机不需要预热，可以可以测量，测量后可以直接关机，节约用电，减少关键部件（X射线管，高压等）消耗，并减少了等待时间。
三、产品配置及技术指标说明

四、iEDX-150WT型号光谱仪软件功能

1) 软件应用
- 单镀层测量
- 线性层测量，如：薄膜测量
- 双镀层测量
- 针对合金可同时进行镀层厚度和元素分析
- 三镀层测量。
- 无电镀镍测量
- 电镀溶液测量
- 吸收模式的应用 DIN50987.1/ ISO3497-A2

    - 励磁模式的应用DIN50987.1/ ISO3497-A1
- 基本参数法可以满足所有应用领域的测量

2) 软件标定
- 自动标定曲线进行多层分析

- 使用无标样基本参数计算方法

- 使用标样进行多点重复标定

- 标定曲线显示参数及自动调整功能

3) 软件校正功能：
- 基点校正（基线本底校正）

- 多材料基点校正，如：不锈钢，黄铜，青铜等

- 密度校正

4) 软件测量功能：
    - 快速开始测量

- 快速测量过程

- 自动测量条件设定（光管电流，滤光片，ROI）

5) 自动测量功能（软件平台）

- 同模式重复功能（可实现多点自动检测）

- 确认测量位置 (具有图形显示功能)

- 测量开始点设定功能（每个文件中存储原始数据）

- 测量开始点存储功能、打印数据

- 旋转校正功能

- TSP应用

- 行扫描及格栅功能

6) 光谱测量功能

- 定性分析功能 （KLM 标记方法）

- 每个能量/通道元素ROI光标

- 光谱文件下载、删除、保存、比较功能

- 光谱比较显示功能：两级显示/叠加显示/减法

- 标度扩充、缩小功能（强度、能量）

7） 数据处理功能

- 监测统计值： 平均值、 标准偏差、 值。

- 最小值、测量范围，N 编号、 Cp、 Cpk，

- 独立曲线显示测量结果。

- 自动优化曲线数值、数据控件

8）其他功能

- 系统自校正取决于仪器条件和操作环境

- 独立操作控制平台

- 视频参数调整

- 仪器使用单根USB数据总线与外设连接

- Multi-Ray、Smart-Ray自动输出检测报告（HTML，Excel）

- 屏幕捕获显示监视器、样本图片、曲线等.......

- 数据库检查程序

- 镀层厚度测量程序保护。

9） 仪器维修和调整功能

- 自动校准功能；

- 优化系统取决仪器条件和操作室环境；

- 自动校准过程中值增加、偏置量、强度、探测器分辨率，迭代法取决于峰位置、 CPS、主X射线强度、输入电压、操作环境。

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