-专为覆膜图的测量而设计

-垂直照射, 透射测量

－Value和Universal均可通过影像测量和接触测头T E S ASTAR-p 或 TESA STAR-mp进行影像和接触测量。

－Value可以用TESA STAR-m或TESA STAR I M8可旋转角度测头实现100%接触测量。

－Universal可以配备激光测头，完成多种方式的扫描，扫描速度为500点/秒。

-500毫米的旋转投影屏做了消光处理, 交叉读数线有30°,60°, 和 90°三种, 并带有4个压图夹

-内置的数字式分度规以度分秒或度的形式显示投影屏的旋转角度.可以或相对显示.

-照明光带有绿色滤光器, 增强图像的对比度,使得测量更轻松并减少了操作者的人为误差.

-可调整的光纤辅助照明可对局部补光以达到*的轮廓显现.

-系统带有<省电>模式, 当仪器持续几分钟不使用时会自动关断照明灯,使得灯泡寿命延长5倍.

-配备两个物镜支架,可快速安装10x到100x的物镜

-测量台可垂直和横向移动, 并有分辨率达0.001mm的光栅系统记录并显示其位置信息.

-X-轴配有快速移动装置,松开时可快速移动工作台.

-旋转手柄同时适合习惯于左撇或右撇操作者,非常人性化.

-配备用于强光环境的遮光帘

-工作台承重10公斤.

技术参数：

测量范围

X=400mm

Y=500mm

Z可以达到300mm(取决于机器的配置)

高精度

光学(um)L为mm

- E2(X/Y)=2 + 5L/1000

- E1(Z)=3 + 8L/1000接触测头(um)L为mm

- E3(X/Y/Z)=2.5 + 6L/1000

- E2(X/Y) =2.2 + 5L/1000

- E1(Z) =2 + 6L/1000

－新型应用广泛的非接触、放大测量,为电子、模具、医疗等行业提供了*

实用的测量方法和手段。。

－PCDMIS影像和接触-企业广泛应用的计量软件。

－的性价比和质量保证。