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在前沿薄膜技术的设计和制造方面，我们开发了一个新的薄膜厚度控制器，控制器的内部封装了一个超高分辨的沉积控制系统。拥有综合显示，直观的GUI和坚实的架构，Eon-ID™ 是这个种类仪器的*产品，提供无所不包的设计；毫无疑问，Eon-ID™薄膜生长厚度控制器拥有超高分辨沉积控制系统，综合数据触摸屏显示，直观的图形用户界面；提供多种多样的设计和设置，精密的温度监测和源控制，适合各种各样的设置，其范围从工业到实验室，从净化间到多种研究环境。Eon-ID™呈现一体化的解决方案，这可能是你所需要的zui后一个薄膜石英监测控制器。

特点：

● 综合触摸屏显示，过程编程与监控，比使用智能手机还简单。

● 通信：RS-232，USB和WiFi。

● 机架式安装(每个插槽可安装1或2个Eon-ID™)。

● 双传感器和源通道扩展能力(四通道可选)。

● *的技术增加了在工业环境应用的可靠性和耐久性。

● 突出的特点是内置温度监测和源控制。

● 输出输入端口：继电器：10个(可编程)，只有1个中止；输入：8个(可编程)。