VIHENT 工业检测显微镜专为工业、电子、仪器行业等大面积样本观察设计。
·精确成像,色彩还原度高——VIHENT NX1000 系列工业检测显微镜采用经过多年研究和不断改良的NIS 无限远光学系统,具有工作距离长,色差矫正能力强,成像锐利等优秀的光学品质。
·专为工业大面积观察需求设计——大面积观察需要更大的操作平台,VIHENT NX1000 系列显微镜采用12 寸超大载物台,满足FPD及LSI 的检测。同时,加入离合器平台手柄及物镜转换等人性化部件,极大的降低了长时间显微操作带来的疲劳。
·模块化设计,实现观察方法的多样性——VIHENT NX1000 系列工业检测显微镜采用模块化设计,可实现明场、暗场、微分干涉、荧光、偏光等观测方法。是半导体器件、FPD
常规应用 ·大面积工业、电子行业样本
·FPD、LSI 样本
·化工、仪器行业的选材、检验、工艺评定、失败分析和工艺研究
柯勒照明 的显微照明系统-- 柯勒照明,提供明亮均匀的视场。配合无限远光学系统NIS45 和高数值孔径和长工作距离的物镜,给您提供的显微成像。
NIS45 系列物镜 采用多层镀膜技术,能够补偿球差及从紫外到近红外的色差。保证了图像的锐度、清晰度和色彩还原性。使所有倍率都能获得高分辨率和平坦的图像。
显微操作面板位于显微镜正面 显微观察经常使用的控制机构位于显微镜正面(靠近操作者)。方便您观察样本时可以更快更方便的对显微镜进行操作。减少长时间观察带来的疲劳及大幅度动作带来的浮尘。
可变倾角三目观察头 可调节倾斜角度的观察头,可以在更舒适的姿势下进行操作。限度的减少长时间工作带来的肌肉紧张与不适。
低手位调焦机构及平台微调机构 调焦机构及平台微调机构采用低手位设计,符合人机工程学设计,给予您的舒适感。
内置离合器平台手柄 可实现载物平台的快速与慢速两种移动方式,能够对大面积样本进行快速定位。与平台微调手柄配合使用,使精确快捷定位样本不再困难。
内置控制面板 将特定按钮设定为与特定物镜产生对应关系,只需轻轻一按即可轻松改变放大倍率。
超大载物平台 微电子及半导体样本往往面积较大,普通的金相显微镜平台不能满足它们的观察需求。NX1000 拥有超大的载物平台和超大的移动范围,并且移动方便快捷。是大面积工业样本显微观察的理想工具。
防静电保护罩 工业样本往往惧怕浮尘,些许浮尘就会影响产品品质及检验结果。NX000 拥有大面积的防静电保护罩,杜绝浮尘与落尘。保护样本,使检验结果更精确。
较长工作距离及高NA 物镜 各种电子元件及半导体等使电路板样本有较大的高低落差。所以在此显微镜上采用拥有较长工作距离的专用物镜。同时为了满足工业样本对色彩还原度的高要求,采用经过多年研发和改进,采用多层镀膜技术,具备高NA 的复消色差物镜,还原样本真实色彩。
科研级显微镜通过模块化的组合,能实现多种观察方式:明场、暗场、相衬、荧光、偏光、DIC 等。
落射明场 NX1000 采用优秀的NIS 无线远光学系统。视场均匀,明亮,色彩还原度高。适合观察半导体等不透明样本。
暗场 可实现明亮的暗场观察,可以对细小划痕等缺陷进行高灵敏度的检测。适合对高要求的样本进行的表面检测。
透射明场 对于透明的样本,如FPD、光学元件等,可通过投射光聚光镜实现明场观察。同时也可搭配DIC、简易偏光等附件使用。
简易偏光 此观察方法适合具有双折射性质的标本,如金相组织、矿物、LCD和半导体材料。
落射DIC 用于观察精密模具中的细小差异。该观察技术可以将普通观察中无法看到的细微高度差异,用浮雕和三维图像的形式表达出来。
图像处理系统 ·软件功能多样,满足您不同图像处理与分析需求。
·多种摄像头可供选择,提供优质的显微拍摄方案。
·通用USB3.0 接口,可提供高速的图像传输。
图像拼接 NOMIS Basic 通过实时采集图像或导入图像,可以快速将小幅图像进行拼接,形成一幅大尺寸、高分辨率的图像。
实时/ 静态测量 典型观测和质量控制需要交互式的测量功能,例如:距离,角度,矩形,圆形和椭圆。
高清实时HDR 图像/视频 当观测不同的样本时,样本表面会显示出高对比度的区域。HDR 使用户在点击之间完成曝光图像的生成。
景深融合/3D 重建
NOMIS Basic 提供景深融合和3D 重建功能。
技术参数