奥林巴斯超声波测厚仪

45MG奥林巴斯超声波测厚仪

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2016-12-05 09:48:16
278
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产品简介

奥林巴斯超声波测厚仪,高精度超声波测厚仪,进口测厚仪
分辨率:0.01毫米
测量范围:0.080 mm~635 mm
45MG仪器是一款带有各种标准测量功能和软件选项的高级超声测厚仪。这款*特色的仪器与所有Olympus双晶和单晶测厚探头兼容,是一款集所有解决方案于一机的创新型仪器,可用于几乎所有测厚应用。

详细介绍

奥林巴斯超声波测厚仪,高精度超声波测厚仪,进口测厚仪

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奥林巴斯超声波测厚仪,高精度超声波测厚仪,进口测厚仪

带有可选橡胶保护套和支架的45MG仪器

45MG仪器是一款带有各种标准测量功能和软件选项的高级超声测厚仪。这款*特色的仪器与所有Olympus双晶和单晶测厚探头兼容,是一款集所有解决方案于一机的创新型仪器,可用于几乎所有测厚应用。

奥林巴斯45MG超声波测厚仪,Olympus超声波测厚仪 进口测厚仪

,高精度超声波测厚仪,进口测厚仪标准功能

45MG仪器在使用基本配置时,是一款易懂易学、操作简便的测厚仪,操作人员经过zui基本的培训,就可完成zui常用的测厚应用。不过,45MG仪器添加了可选软件选项和探头后,就会变成一款极为高级的测厚仪,可以进行典型的初级仪器不能完成的应用。此外,大多数选项可以在购买仪器时分别购买,或在日后需要时购买。

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抵御恶劣环境的能力

简便操作的设计理念

可选功能

只需几次按键,即可完成从简单腐蚀测厚仪到多功能精确测厚仪的华丽变身。45MG测厚仪提供需密码激活的5个软件选项,从而跻身于工业领域中用途zui广泛的测厚仪行列。

回波到回波/穿透涂层:使用回波到回波选项,仪器屏幕上会显示金属的实际厚度,而涂层的厚度会被忽略。穿透涂层选项测量金属厚度与非金属涂层的厚度,这两个厚度都根据它们各自正确的材料声速值得到了调整。因此,在进行厚度测量时,无需去掉材料表面的漆层或涂层。

单晶:这个选项可对很多材料,如:金属、塑料、复合材料、玻璃及陶瓷,进行非常精确的厚度测量。这个选项可与范围在2.25 MHz到30 MHz的单晶Microscan探头相兼容。

单晶高穿透:这个选项可对较厚或衰减性较高的材料,如:玻璃纤维或铸造金属,进行厚度测量。可与范围在0.5 MHz到30 MHz的单晶Microscan探头相兼容。这个选项包含单晶选项。

数据记录器:45MG测厚仪带有一个功能齐全的内置双向字母数字式数据记录器,可方便地存储和传输厚度读数和波形数据。这个选项包含基于Windows的GageView接口程序。

带有波形调整功能的实时A扫描:用户使用这个可选实时A扫描模式,可以在测厚仪的显示屏上直接查看超声波形(或称A扫描),核查厚度测量读数,对增益和空白设置进行手动调整,以在具有挑战性的应用中zui大限度地增强测量性能。这个极为有益的选项包含手动增益调整、扩展空白、*回波空白、范围及延迟参数。

 

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45MG的技术规格

测量
双晶探头测量模式从激励脉冲后的精确延迟到*个回波之间的时间间隔。
自动回波到回波(可选)在两个连续底面回波之间的时间间隔,不计漆层或涂层的厚度。
穿透涂层测量 (可选)利用单个底面回波,测量金属的实际厚度和涂层厚度(使用D7906-SM和D7906探头)
单晶探头测量模式(可选)模式1:激励脉冲与*个底面回波之间的时间间隔。
模式2:延迟块回波与*个底面回波之间的时间间隔(使用延迟块或水浸式探头)
模式3:在激励脉冲之后,位于*个表面回波后的相邻底面回波之间的时间间隔(使用延迟块探头或水浸式探头)。
厚度范围0.080 mm~635 mm(0.003 in.~25.0 in.)视材料、探头、表面条件、温度和所选配置而定(要测量zui全的范围需要使用单晶选项)
材料声速范围0.508 mm/μs~18.699 mm/μs(0.020 in./μs~0.7362 in./μs)
分辨率(可选择)低分辨率:0.1毫米(0.01英寸)
标准分辨率:0.01毫米(0.001英寸)
单晶选项:0.001毫米(0.0001英寸)
探头频率范围标准:2.25 MHz~30 MHz(-3 dB)高穿透(单晶选项):0.50 MHz~30 MHz(-3 dB)
一般规格
操作温度范围-10 °C~50 °C(14 °F~122 °F)
键盘密封、以色彩区分功能的键盘,带有触感及声音反馈
机壳防撞击、防水、装有密封垫的机壳,机壳上的接口密封。设计符合IP67标准。
外型尺寸(宽 x 高 x 厚)总体尺寸:91.1 mm x 162 mm x 41.1 mm
重量430.9克
电源3节AA电池/USB电源供应
电池工作时间3节AA碱性电池:20到21小时
3节AA镍氢电池:22到23小时
3节AA锂离子电池:35到36小时
标准设计符合EN15317标准
显示
彩色透反QVGA显示液晶显示,显示屏尺寸:54.61毫米 x 41.15毫米
检波全波、RF波、正半波、负半波(波形选项)
输入/输出
USB2.0从接口
存储卡zui大容量:2 GB可插拔MicroSD存储卡
内置数据记录器(可选)
数据记录器45MG通过USB或MicroSD卡识别、存储、调用、清除及传输厚度读数、波形图像和仪器配置信息。
容量475000个厚度测量读数,或20000个带厚度值的波形
文件名称和ID编码32位字符的文件名,20位字符的字母数字位码
文件结构6个标准的或自定义的用于特定应用的文件结构
报告机载报告总结了数据统计和zui小值/zui大值

标准配置

软件选项

选购附件

耦合剂

为得到探头与被测样件之间的声学耦合,几乎总会需要液体耦合剂。我们所提供的各种耦合剂几乎可以适用于所有应用。

校准试块

试块是校准超声测厚仪的必要工具,为保持、核查超声测量的精确性、独立性及可靠性,一定要使用校准试块。试块所使用的公差标准较ASTM E797规范中表述的公差更为严格。我们备有公制单位的试块。

探头线缆

我们提供适用于所有超声测厚仪器的各种探头线缆。

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