薄膜测厚仪FR-Basic UV/NIR-HR

FR-Basic UV/NIR-HR薄膜测厚仪FR-Basic UV/NIR-HR

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2022-10-21 16:31:29
331
产品属性
关闭
迈可诺技术有限公司

迈可诺技术有限公司

免费会员
收藏

组合推荐相似产品

产品简介

干涉仪是利用干涉原理测量光程之差从而测定有关物理量的光学仪器。两束相干光间光程差的任何变化会非常灵敏地导致干涉条纹的移动,而某一束相干光的光程变化是由它所通过的几何路程或介质折射率的变化引起,所以通过干涉条纹的移动变化可测量几何长度或折射率的微小改变量,从而测得与此有关的其他物理量。

详细介绍

干涉仪是利用干涉原理测量光程之差从而测定有关物理量的光学仪器。两束相干光间光程差的任何变化会非常灵敏地导致干涉条纹的移动,而某一束相干光的光程变化是由它所通过的几何路程或介质折射率的变化引起,所以通过干涉条纹的移动变化可测量几何长度或折射率的微小改变量,从而测得与此有关的其他物理量。测量精度决定于测量光程差的精度,干涉条纹每移动一个条纹间距,光程差就改变一个波长(10-7),所以干涉仪是以光波波长为单位测量光程差的,其测量精度之高是任何其他测量方法所*的。
、非接触式测量:避免物件受损。
、三维表面测量:表面高度测量范围为12nm - 120μm 
、多重视野镜片:方便物镜的快速切换。
、纳米级分辨率:垂直分辨率可以达0.1nm
5、高速数字信号处理器:实现测量仅需几秒钟。
、扫描仪:闭环控制系统。
7、工作台:气动装置、抗震、抗压。
、测量软件:基于windows 操作系统的用户界面,强大而快速的运算

FR-Basic UV/VIS

200nm - 850nm

1nm - 80μm

FR-Basic VIS/NIR

350nm – 1000nm

12nm - 120μm

FR-Basic RED/NIR

700nm – 950nm

200nm - 250μm

FR-Basic UV/NIR-HR

200nm - 1100nm

1nm - 120μm

FR-Basic UV/NIR-EXT  

200nm - 1000nm          

3nm - 80μm

FR-Basic NIR

900nm - 1700nm

100nm - 200μm

FR-Basic D VIS/NIR

FR-Basic D UV/NIR

350nm – 1700nm

200nm – 1700nm

12nm – 300μm

1nm – 300μm

 

主营产品:

Laurell匀胶机    

Harrick等离子清洗机  

Uvitron紫外固化箱

NXQ紫外曝光光刻机      

Novascan紫外臭氧清洗机

Wenesco/EMS/Unitemp加热板  

Kinematic程序剪切仪

Laurell EDC系统,湿站系统    

Wabash/Carver自动压片机    

上一篇:信伟慧诚台式玻璃瓶罐测厚仪测头有平头与尖头可选(适用于不同瓶体) 下一篇:信伟慧诚MAK-200霍尔效应测厚仪技术说明附实物照片!
热线电话 在线询价
提示

请选择您要拨打的电话:

温馨提示

该企业已关闭在线交流功能