薄膜介质损耗因数测试仪软件功能：

 * 1、测试频率可以扫描进行测试

 *2、测试频率可以单点测试

 *3、测试频率可以多频设置测试

 4、测试速度模式：快速、中速、慢速

 5、测试数据与曲线显示：

*6、电阻率—测试频率

*7、绝对介电常数--测试频率

*8、相对介电常数--测试频率

*9、相对介电常数虚部--测试频率

*10、相对介电常数实部--测试频率

*11、介质损耗--测试频率

*12、电容值--测试频率

薄膜介质损耗因数测试仪

式中：

εr——复相对电容率；

ε''r——损耗指数；

ε'r、εr——相对电容率；

tanδ——介质损耗因数。

注：有损耗的电容器在任何给定的频率下能用电容Cs和电阻Rs的串联电路表示，或用电容CP和电阻RP（或电导CP）并联电路表示。

                 并联等值电路                                                                 串联等值电路

式中：

Cs——串联电容；

Rs——串联电阻；

1）有些国家用“损耗角正切”来表示“介质损耗因数”，因为损耗的测量结果是用损耗角的正切来报告的。

CP——并联电容；

RP——并联电阻。

虽然以并联电路表示一个具有介质损耗的绝缘材料通常是合适的，但在单一频率下，有时也需要以电容Cs和电阻Rs的串联电路来表示。

串联元件与并联元件之间，成立下列关系： 

式（9）、（10）、（11）中：Cs、Rs、CP、RP、tanδ同式（7）、（8）。

无论串联表示法还是并联表示法，其介质损耗因数tanδ是相等的。

假如测量电路依据串联元件来产生结果，且tanδ太大而在式（9）中不能被忽略，则在计算电容率前必须先计算并联电容。

本标准中的计算和测量是根据电流（ω=πf）正弦波形作出的。

仪器的技术指标

1．Q值测量范围：2～1023

2．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档；

3．电感测量范围：自身残余电感和测试引线电感的自动扣除功能4.5nH-100mH 分别有0.1μH、0.5μH、2.5μH、10μH、50μH、100μH、1mH、5mH、10mH九个电感组成。

4．电容直接测量范围：1～460pF                                                

5．主电容调节范围： 30～500pF                                            

6．电容准确度 150pF以下±1.5pF；150pF以上±1%                                                                   7．信号源频率覆盖范围100KHz-70MHz （双频对向搜索  确保频率不被外界干扰）另有GDAT-C 频率范围200KHZ-100MHz

8、型号频率指示误差：1*10-6 ±1                                      

Q值合格指示预置功能范围：5～1000

Q值自动锁定，无需人工搜索

9．Q表正常工作条件

a. 环境温度：0℃～+40℃

b．相对湿度：<80％；

c．电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。

电气绝缘材料的性能和用途

电介质的用途

电介质一般被用在两个不同的方面：

用作电气回路元件的支撑，并且使元件对地绝缘及元件之间相互绝缘；

用作电容器介质。

影响介电性能的因素

下面分别讨论频率、温度、湿度和电气强度对介电性能的影响。

频率

因为只有少数材料如石英玻璃、聚苯乙烯或聚乙烯在很宽的频率范围内它们的εr和tanδ几乎是恒定的，且被用作工程电介质材料，然而一般的电介质材料必须在所使用的频率下测量其介质损耗因数和电容率。

电容率和介质损耗因数的变化是由于介质极化和电导而产生，*重要的变化是极性分子引起的偶极子极化和材料的不均匀性导致的界面极化所引起的。

温度

损耗指数在一个频率下可以出现一个值，这个频率值与电介质材料的温度有关。介质损耗因数和电容率的温度系数可以是正的或负的，这取决于在测量温度下的介质损耗指数值位置。

湿度

极化的程度随水分的吸收量或电介质材料表面水膜的形成而增加，其结果使电容率、介质损耗因数和直流电导率增大。因此试验前和试验时对环境湿度进行控制是*的。

注：湿度的显著影响常常发生在1MHz以下及微波频率范围内。