50HZ介电常数电容率测试仪复相对电容率 complex relative permittivity

εr

由相对电容率和损耗指数结合而得到的:

式中:

εr——复相对电容率;

ε''r——损耗指数;

ε'r、εr——相对电容率;

tanδ——介质损耗因数。

注:有损耗的电容器在任何给定的频率下能用电容Cs和电阻Rs的串联电路表示,或用电容CP和电阻RP(或电导CP)并联电路表示。

                 并联等值电路                                                                 串联等值电路

式中:

Cs——串联电容;

Rs——串联电阻;

1)有些国家用“损耗角正切”来表示“介质损耗因数”,因为损耗的测量结果是用损耗角的正切来报告的。

CP——并联电容;

RP——并联电阻。

虽然以并联电路表示一个具有介质损耗的绝缘材料通常是合适的,但在单一频率下,有时也需要以电容Cs和电阻Rs的串联电路来表示。

串联元件与并联元件之间,成立下列关系: 

式(9)、(10)、(11)中:Cs、Rs、CP、RP、tanδ同式(7)、(8)。

无论串联表示法还是并联表示法,其介质损耗因数tanδ是相等的。

主要技术参数

假如测量电路依据串联元件来产生结果,且tanδ太大而在式(9)中不能被忽略,则在计算电容率前必须先计算并联电容。

本标准中的计算和测量是根据电流(ω=πf)正弦波形作出的。

50HZ介电常数电容率测试仪因为只有少数材料如石英玻璃、聚苯乙烯或聚乙烯在很宽的频率范围内它们的εr和tanδ几乎是恒定的,且被用作工程电介质材料,然而一般的电介质材料必须在所使用的频率下测量其介质损耗因数和电容率。

电容率和介质损耗因数的变化是由于介质极化和电导而产生,最重要的变化是极性分子引起的偶极子极化和材料的不均匀性导致的界面极化所引起的。

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