英文名称：Highly Accelerated Temperature and Humidity Stress Test

产品别名：HAST寿命试验箱,高压蒸煮试验箱、HALT、 HAST 试验箱,高加速温度和湿度压力测试箱,HAST CHAMBER,加速老化试验机,高温高湿高压老化箱,加速寿命试验机,高压加速老化箱,寿命高加速试验箱,饱和稳态湿热试验箱,HAST测试箱等可靠性试验设备。

产品用途：

HAST试验箱适用于IC封装，半导体，微电子芯片，磁性材料及其它电子零件进行高压、高温、不饱和/饱和湿热、等加速寿命信赖性试验，使用于在产品的设计阶段，用于快速暴露产品的缺陷和薄弱环节。测试其制品的密封性和老化性能。

应用领域：

广泛用于IC半导体、连接器、线路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏组件等行业相关之产品作加速老化寿命试验。

产品特点：

◆内胆采用双层圆弧设计,可以防止试验结露滴水现象，从而避免产品在试验过程中受过热蒸汽直接冲击影响试验结果。

◆采用7寸真彩式触摸屏，拥有250组12500段程序，具有USB曲线数据下载功能，RS-485通讯接口。

◆采用干湿球传感器直接测量(控制模式分为：干湿球、不饱和、湿润饱和等3种模式)。

产品参数

更多型号支持非标定制

适用标准：GB/T2423.40,IEC60068-2-66,JESD22-A102-D,JESD22-A110-D,JESD22-A118-A

当今的技术正在朝着具有较高漏芯电流的器件的薄型/低几何尺寸封装发展，这会产生内部功耗，进而将水分从芯片/器件中带走，

并阻止了与水分相关的失效机理的分析。

HAST（高度加速的温度和湿度应力测试）已成为设备封装可靠性和鉴定过程的关键部分，它主要用于评估潮湿环境下非密封包装设备的可靠性。这是通过在高度受控的压力容器内设置和创建温度-湿度-压力的各种条件来完成的，这些条件加速了水分通过外部保护性塑料封装的渗透，

并将这些应力条件施加到芯片/器件上。

根据JEDEC JESD22-A110常见测试条件有：130°C / 85％RH / 33.3 psia和 110°C / 85％RH.17.7磅/平方英寸，持续时间：96或264小时。