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英文名称:Highly Accelerated Temperature and Humidity Stress Test
产品别名:HAST寿命试验箱,HALT、 HAST 试验箱,高加速温度和湿度压力测试箱,HAST CHAMBER,加速老化试验机,高温高湿高压老化箱,加速寿命试验机,高压加速老化箱,寿命高加速试验箱,饱和稳态湿热试验箱,HAST测试箱等可靠性试验设备。
产品用途:
HAST/HALT试验箱适用于IC封装,半导体,微电子芯片,磁性材料及其它电子零件进行高压、高温、不饱和/饱和湿热、等加速寿命信赖性试验,使用于在产品的设计阶段,用于快速暴露产品的缺陷和薄弱环节。测试其制品的密封性和老化性能。
应用领域:
广泛用于IC半导体、连接器、线路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏组件等行业相关之产品作加速老化寿命试验。
产品特点:
◆内胆采用双层圆弧设计,可以防止试验结露滴水现象,从而避免产品在试验过程中受过热蒸汽直接冲击影响试验结果。
◆采用高效真空泵,使箱内达到纯净饱和蒸汽状态。
◆采用7寸真彩式触摸屏,拥有250组12500段程序,具有USB曲线数据下载功能,RS-485通讯接口。
◆汽车级硅胶整体密封条,气密性好,耐用。
◆全自动补水功能,前置式水位确认。
◆采用干湿球传感器直接测量(控制模式分为:干湿球、不饱和、湿润饱和等3种模式)。
双层圆弧内箱 压力感应开关
更多型号可按需定制
产品参数
适用标准:GB/T2423.40,IEC60068-2-66,JESD22-A102-D,JESD22-A110-D,JESD22-A118-A
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