镀层标准片适用于X射线类仪器的标准。市面上绝大多部分的手持式荧光仪的厚度标准件都来自于美国Calmetrics公司。适用于费希尔Fischer、牛津Oxford、CMI、热电Thermo、Veeco、微先锋MicroPioneer、精工Seiko、岛津、电测、纳优、天瑞、华唯等各厂牌X-ray（X射线测厚仪）、β-ray（β射线测厚仪）、磁感式及涡电流等多种原理的各种规格与尺寸。

　　镀层标准片通常作用：　

　　1、用来对膜厚仪工作状态的准确性和稳定性进行校验。在膜厚仪测试过程中对膜厚仪运行过程中，确认工作状态。防止膜厚仪故障状态时能*时间确认。　

　　2、专业用于X射线测厚仪（膜厚仪）在测金属镀层厚度时进行的标准化校准及建立测试档案。也就是我们在膜厚测试中常用的标准曲线法，是测量已知厚度或组成的标准样品，根据荧光X-射线的能量强度及相应镀层厚度的对应关系，来得到标准曲线。之后以此标准曲线来测量未知样品，以得到镀层厚度或组成比率。　

　　软件测试流程　　

　　一：参数设置　

　　1.峰位校准参数，元素Ag通道552　　

　　1）开机后预热，步骤为：放入Ag元素片→产品程式→选择→预热→开始。　　

　　2）：参数→峰位校准参数→管流设置（0.1准直器设置为3000左右，0.2准直器设置为1000左右，根据不同的准直器，设置合适的管流，保证Ag计数率在2200左右，）　　

　　3）峰位校正：点击　　

　　→开始→自动进入峰位校正程序，保证Ag峰通道在552，成功后进入校正Cu元素界面，更换Cu元素片，峰通道在198，峰位校正成功。