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系统配有专用Premier 操作软件,系统中的所用测试项目可以同时操作使用,并按照需求制定测试工作流程,记录下测试者每一步的测试数据,形成宝贵的标准测试程序
标准测试程序功能 (TestFlow) 可以将电路板的故障定位工作,转换成一个循序渐进的标准程序,并降低测量的不准确性并且记录所有的测量参数. 技术工程人员可以自行编写一个标准的测试程序,或经由TestFlow为特定的电路板设定标准的量测步骤及记录测量的结果. 工程人员也可以加入电路图或实际的电路板图片,甚至是加入一些指示来帮助检测工作的进行. 半熟练的工程人员只需要按步就班的依指示及图示来操作设备,便可以完成所有的检测工作.
产品综述
数字集成电路测试的高级测试模块(ATM)
提供了1个数字集成电路功能测试模块,其具有64个量测通道,可提供多种的量测功能.这些通道可提供全面性故障诊断能力,包括数字集成电路功能测试(在线/离线测试),集成电路接脚的连接状态和电压值的量测,并连同在无电源供给的情形下使用的VI曲线的测试功能.
该模块是升级产品,是数字集成电路测试的高级测试模块,系统提供信息更全面,更准确.测试条件更丰富,仿真测试输入条件电压电流可以根据需要-10V~+10V之间自己定义,检测输出的电平也可以自己定义.6500模块可以更好的检测测试库以外的元器件,实现电路板仿真测试更加方便快捷.
模拟集成电路测试功能模块(AICT)
在模拟集成电路测试仪中允许模拟集成电路和分立集成电路进行功能测试.所有常见的模拟集成电路皆可以测试,系统会依照集成电路在PCB上的电路型态来作功能测试,不需要编辑程序或参考电路图.在该模块中还包括了完整的V-I曲线测试功能,电路板或集成电路可在无电源供给的情形下,得到清楚易懂的图形化测试结果.2500模块包含标准模拟器件参数测试库。
数字可调式电源供应器模块(VPS)
此模块可提供集成电路或电路板在进行测试时所必要的电源.其具有三组可调式电源输出,并同时具有过电压及过载保护功能.
Digital IC Test 数字集成电路测试功能
具64个量测通道 (64通道X1组模块).八组输出隔离信号.可进行集成电路的功能测试、电压测量、接脚连接测试、温度指数及V-I曲线量测.内建逻辑时序信号测量功能、EPROM 数据比对功能、数字集成电路搜寻功能等.并可针对数字逻辑位准进行调整,另外可自动定位集成电路接脚及电路状态比对功能.
Analogue IC Test 模拟集成电路测试功能
具有24组测试通道及外加一组的分离集成电路测试信道.内建集成电路数据库可测量模拟放大器、比较器、光耦合器、晶体管、二极管及特殊功能的集成电路.可针对模拟集成电路进行功能测、连接状态测试及电压测量.并具有自动定位集成电路接脚及电路状比对功能.
Digital V-I Test 数字式V-I曲线测试功能
具64量测通道(64通道X1个模块).可调整测量信号电压范围.针对数字集成电路可达到有效的测量结果.
Analogue V-I Test 模拟式V-I曲线测试功能
具有24量测通道及外加二组独立测量通道.其具有可调频率、可调电压、可调输出阻抗及选择测量波形功能.并可选择波形显示模式:V-I、V-T及I-T三种显示模式.二组同步可变脉宽的信号输出.内建测量线路补偿功能.具有外接盒可供选配.
Matrix V-I 矩阵式V-I测试功能
具有24组矩阵式的测量通道.单一波形多重显示的方式，并可直接进行测量波形的比对功能,并以条状图的方式来显示各通道信号的差异百分比.
Graphical Test Generator 数字时序编辑功能
具有64个信号通道可供编辑数字时序信号,每个通道可设定输出、输入及双向状态.并可读取数字向量信号、并且储存之后再进行比对.
Short Locator 短路电阻测量功能
具有三段低电阻测量范围,可以图示及声音来判断目前短路的位置.
Variable Power Supply 可调型电源输出功能
逻辑电源输出的可调电压范围为2.5V到6V并具有过电压跳脱功能.另外有可调式的正负电源输出,其可电压可调范围为-24V到+24V.其输出电流能力可达1A.
模块介绍
ATM数字集成电路测试模块
主要功能:
64通道数字集成电路在线、离线功能测试
64通道V-I曲线模拟通道测试(可测模拟器件)
强大的元器件和整板仿真测试功能
阈值电平零界点扫描测试
短路追踪测试(低电阻测试)
实时显示输出逻辑电平值
存储器功能测试
数字时序编辑功能
未知器件型号查询
程控电源供电
测试准确-源自*的测试技术
同一器件同一时间完成多种测试:功能测试,V-I曲线测试,温度拐点系数测试,连接状态测试,管脚电压测试等.
图形化元件测试库的编辑,输入输出各个测试通道的逻辑时序可以由测试者图形化自定义编辑测试完成,方便快捷的建立起测试库中没有的元件库.
整板测试非常简单,通过图形化的测试库编辑器,根据电路板原理,定义输入激励信号及测试输出的标准响应信号,快速建立板测试库,快速批量检测电路板的功能.
逻辑电平阈值自动扫描,确定板系统逻辑电平阈值零界值,设定循环测试来发现不稳定的故障元器件.
逻辑电平阈值自定义.可以设定非标准的逻辑电平阈值,检查不稳定的元器件.
短路电阻测量功能:三段低电阻测量范围,可以用图像及声音的变化来表示电阻值大小,此功能可以用以检查电路板线路的电阻值,及检查短路点.
输出逻辑时序图形显示,具体时序电压值显示,方便掌握具体测试信息.
V-I曲线测试功能:可针对元器件直接进行测试,曲线电压扫描范围:-10v~+10v;测试电压可由2.5到5V步阶式调整,可调整为非对称电压扫描信号,正负电压可以不一致,例如:-2.5v~+10v 限度地保证测试的安全性.其输出电流由系统自动调整设定.扫描信号可达几十种.
产品特征
中英文测试软件,USB接口.
数字测试通道:64路(可扩充到256通道).
模拟测试通道64路(可扩充到256通道).
1路v-i探棒测试隔离通道:4路.总线竞争信号隔离功能:用于解除总线竞争,确保正确测试挂在总线上的三态器件(如74LS373,74LS245,等),可提供4路总线竞争隔离信号,6500可提供8路隔离信号.
能够对多种逻辑电平数字逻辑器件进行在线/离线功能测试;测试库达上万种元器件,可以通过图像化的编辑器自定义测试库,可以快速扩充测试库配有离线测试盒,快速测试批量元器件.离线测试和在线测试功能*一致.
IC型号识别:标识不清或被擦除型号的器件,可"在线"或"离线"进行型号识别测试.
读写存储器功能测试5V/5A的直流电源程控自动输出,具有过电压及过电流各种类型电路板的测试。
数字集成电路测试中集电极开路，自动上加上拉电阻。
V-I曲线测试具有单通道探笔测试功能，方便分立器件的V-I曲线测试LSI大规模集成电路在线功能及状态分析测试：可采取学习、比较的方式对一些常见的LSI器件进行功能及状态分析测试。
数字集成电路测试参数规格：
英国ABI-2400/ABI-2500模拟集成电路测试模块
特点:
含模拟器件测试库,可以直接对模拟器件进行参数测试.
测量通道数:24个独立测试通道
驱动输出电压:-12V~+12V
驱动输出电流:200mA
可测量输入电压:±24V
输入阻抗:大于1MΩ
IC测试封装型态:OP放大器/比较器/DACs/ADCs
IC测试方式:在线测试,若工作在OPA工作在线性区, 则可自动计算出放大率(Av)
晶体管测试种类:晶体管/FET/TRIACS/THYRISTOR等
分立元器件测量通道可轻易的让使用者完成分立元器件的测量工作,其内部提供了许多测量方式,可让使用者用于许多类型的分立元器件测试,包含功率型或高增益的分立元器件等.
特点:
适合模拟及数字集成电路的测试.
可进行在线或离线测试与分析.
具有24路测试通道.
安全性高的无电源测量方式.
矩阵式V-I曲线测试,可针对管脚间的阻抗曲线进行测试.
在进行离线测试时,可针对芯片内部进行阻抗分析.
自动对比及储存曲线.
可切换VI,VT及IT三种显示模式,可配合不同功能型式的FET元器件.
可设定同步脉冲信号的宽度,进行可控硅元器件或FET的功能测试.
可进行光电耦合器及继电器元器件的速度功能测试.
具有二组信号源,可输出直流信号,针对光电耦合器及继电器进行稳态测试.
并且显示相似度百分比,具有业界中最多的信号频率文件位,对于故障的查找有相当大的帮助.
测试频率高达到12kHz,非常适合测试电感及高频电容器件.
本系统具备自动信号补偿功能,可针对测试环境及夹具进行自校测试,以防止量测信号失真.
可由软件来进行维修日志的编写.
可由软件加入图片,用来清楚的表示量测位置及电路板样式.
可选择利用USB或PCI通讯接口来进行仪器的操作,也可安装在PC内来节省所占的空间.
测试参数：
| 测量通道: | 24测试通道 |
| 探笔通道: | 2通道实时对比测试 |
| 信号通道: | 2通道同步脉冲信号 |
| 测试电压范围: | 2 V to 50 V peak to peak:2/4/6/8/10/20/30/40/50V |
| 电压分辨率: | 8 to 12 bits |
| 测试频率范围: | 37.5 Hz to 12 kHz:37.5/60/75/94/120/150/187.5/240/300/375/480/600 |
| 信号电流范围: | 1 μA to 150 mA |
| 测试阻抗范围: | 100Ω to 1MΩ：100Ω、1kΩ、10kΩ、100kΩ、1MΩ |
| 测试信号波形: | 正弦波、三角波、斜波 |
| 显示图形模式: | V-I,V-T,I-T |
| 矩阵测试: | 各个管脚间的VI曲线测试 |
| 波形自动对比: | 可利用实时量测双通道来自动实时对比好坏组件的波形,或将波形进行存储后,再进行比对. |
| 同步脉冲输出: | 正向(Positive),负向(negative)或双向(bipolar)波形 |
| 同步信号振幅: | 可调式由+10V～ -10V |
功能强大的2500
含模拟器件测试库,可以直接对模拟器件进行参数测试.
测量通道数:24个独立测试通道
驱动输出电压:-12V~+12V
驱动输出电流:200mA
可测量输入电压:±24V
输入阻抗:大于1MΩ
IC测试封装型态:OP放大器/比较器/DACs/ADCs
IC测试方式:在线测试,若工作在OPA工作在线性区, 则可自动计算出放大率(Av)
晶体管测试种类:晶体管/FET/TRIACS/THYRISTOR等
分立元器件测量通道可轻易的让使用者完成分立元器件的测量工作,其内部提供了许多测量方式,可让使用者用于许多类型的分立元器件测试,包含功率型或高增益的分立元器件等.
1100可调电源模块
电源输出可由软件控制
可调式逻辑电压通道
可调整2.5V至6V的电压
最小电压(流)调整解析:0.01V & 0.01A
可调式正电压通道
可调整电压:0～+24V 电流范围:50mA～1.5A
最小电压(流)调整解析度:0.01V & 0.01A
可调式负电压通道
可调整电压:0～-24V 电流范围:50mA～1.5A
最小电压(流)调整解析度:0.01V & 0.01A
| 数字集成电路测试参数规格 | |
| 测试通道数: | 64通道;可扩展到256通道/6500可扩充2048通道 |
| 总线隔离信号通道数: | 8通道 |
| 实时比对功能: | 需有二个64通道, 或128通道 |
| 输出驱动电压 | TTL/CMOS 标准 |
| 输出驱动电流: | 电流依不同的逻辑电平阈值有下列区分 |
| 一般H-L 80mA @ 0.6V | |
| 一般 L-H 200mA @ 2V | |
| Max. 400mA | |
| 驱动电压转换比: | >100V/μs |
| 电压范围: | +/-10V |
| 输入阻抗: | 10k |
| 逻辑形态: | 三态或开集极开路(内定或由程序设定) |
| 驱动逻辑形态: | Low,high,三态(tri-state) |
| 过电压保护范围: | <0.5V,>5.5V |
| 最长测试时间: | 根据被测元器件而定 |
| 测试方式: | 在线及离线测试(需外接离线测试盒) |
| 测试功能及参数 | 参数主要区别 |
| 集成电路功能测试 | 根据元件原理和真值表进行功能测试 |
| 元器件连接特性测试 | 短路状态侦测 |
| 悬浮(浮接)状态侦测 | |
| 开路状态侦测 | |
| 连接状态侦测:6500可以自定义仪器输出通道的电压范围(-10~+10v),模拟仿真测试范围更加广泛. | |
| 电压测量 | 最小解析10mV范围+/-10V |
| 具逻辑状态侦测 | |
| VI曲线测试: | 测试通道数64 256(扩展) |
| 电压设定范围-10Vto+10V(可自行设定),可以设置非对称电压扫描 | |
| 测试电流 1mA | |
| 曲线拐点系数: | 管脚的v-i曲线图中的拐点图形,随温度产生变化的系数,对于判定温漂的故障元件非常有助 |
| 测试模式 | |
| 单次(Single): | 单次测试 |
| 循环(Loop): | 反复测试,或条件式循环测试(PASS或FAIL) |
| 自动扫描测试: | 可找到较为严格的逻辑电平阈值 |
| 逻辑电平阈值设定规格参数 | |
| 最小调整解析: | 100mV |
| 低信号位准: | TTL 0.1V to 1.1V/CMOS 0.1V to 1.5V |
| 转态位准: | TTL 1.0V to 2.3V/CMOS 1.0V to 3.0V |
| 高信号位准: | TTL 1.9V to 4.9V/CMOS 1.9V to 4.9V |
| 扫描低逻辑范围: | TTL 0.1V to 1.1V/CMOS 0.1V to 1.5V |
| 扫描逻辑转态范围: | TTL 1.2V/CMOS 2.5V |
| 扫描高逻辑范围: | TTL 1.9V to 4.9V/CMOS 1.9V to 4.9V |
| 测试范围 | 多种电源数字IC |
| 后置驱动能力 | 600mA (MAX) |
| 隔离信号通道 | 8组信号(支持较大驱动电流) |
| 测量电压范围 | +20V~ -20V |
