两箱式温度冲击实验箱适用于电子元气件的安全性能测试提供可靠性试验、产品筛选试验等，同时通过此装备试验，可提高产品的可靠性和进行产品的质量控制。

采用上下两箱（上箱高温、下箱低温），中间为提蓝，就是可以放置样品的地方，提蓝通过传动装置上下切换，在高低温两箱中进行快速转换。

适用标准：

GB/T5170.2-2008 温度试验设备

GB/T2423.1-2008(IEC60068-2-1:2007) 低温试验方法Ab

GB/T2423.2-2008(IEC60068-2-2:2007) 高温试验方法Bb

GB/T2423.22-2002(IEC60068-2-14:1984) 试验方法试验N：温度变化

GJB 150.3-1986   高温试验

GJB 150.4-1986   低温试验

GJB 150.5-1986   温度冲击试验