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1、产品特点：
我们一直持续致力于不断的探索研究去突破技术壁垒，以获得更为高效的测试过程及测试装置，使测试性能趋于。目前我们在同步仪器及科学研究领域所取得的巨大成就已充分证明了这一点。
新型的EIGER X 系列探测器可以为要求极为苛刻的同步应用提供的探测性能。具有连续读数能力的千赫兹帧速率的成像能力为时分类实验和XPCS提供了一种全新的手段，使得像ptychography类的慢速扫描成像技术成为可能。高分辨率和连续的衍射实验受益于较小的成像尺寸，通过X射线的直接转换可以获得的点扩散函数。在理想情况下每单元面积的计数速率可以与持续增加的波速线亮度相匹配。
2、核心优势：
- 混合成像计数：单光子成像计数模式下的X射线直接转换能力
- 千赫帧速率工作周期> 99%
- 3μs时间下的连续采集模式
- 5μm像素尺寸的高空间分辨率
- 优秀的点扩散函数
- 计数器高达每平方毫米每秒5亿张
- 无读出噪声和暗电流
- 极其紧凑的外壳
3、应用领域：
-X射线光子相关光谱(XPCS)
- Ptychography(叠层衍射)成像技术
- 时间分辨实验
- 大分子晶体学(MX)
- 单晶衍射(SCD)
- 粉末衍射(PD)
- 表面衍射
- 小广角/X光散射(粉煤灰/蜡)
- X射线成像
4、技术参数：
EIGER X | 500K | 1M | 4M | 9M | 16M |
探测器模块数量 | 1 | 1 x 2 | 2 x 4 | 3 x 6 | 4 x 8 |
有效面积：宽x高 [mm2] | 77.2 x 38.6 | 77.2 X 79.9 | 155.2 x 162.5 | 233.2 x 245.2 | 311.2 x 327.8 |
像素大小 [μm2] | 75 x 75 | ||||
总像素数量 | 1030x514= 529,420 | 1030x1065= 1,096,950 | 2070 x 2167= 4,485,690 | 3110 x 3269= 10,166,590 | 4150X4371= 18,139,650 |
间隙宽度, 水平/垂直（像素） | -/- | -/37 | 10 / 37 | 10 / 37 | 10 / 37 |
非灵敏区 [ % ] | 0 | 3.5 | 5.6 | 6.3 | 6.6 |
缺陷像素 | <0.03% | ||||
帧频* [Hz] | 3000,4500**,9000** | 3000 | 750 | 238 | 133 |
计数器深度 [ bit ] | 12, 8, 4 | 12 | 12 | 12 | 12 |
读出时间 | 连续读数，3μs死区时间，工作循环>99%*** | ||||
点扩散函数 | 1 pixel | ||||
探测器厚度 [μm] | 450 | ||||
阈值能量 [keV] | 2.7-18 | ||||
计数率 [phts/s/mm2] | 5•108 | ||||
动态范围 [bit] | 16 或32 | ||||
数据格式 | HDF5 / NeXus | ||||
尺寸（WHD）[mm3] | 114 x 92 x 242 | 114 x 133 x 240 | 235 x 237 x 372 | 340 x 370 x 500 | 400 x 430 x 500 |
重量 [kg] | 3.3 | 3.9 | 15 | 41 | 55 |
功耗 [w] | 70 | 75 | 300 | 750 | 1200 |
